대한전자공학회논문지SD (Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD)

대한전자공학회 (The Institute of Electronics and Information Engineers)
권호 표지

LVDT 구조를 이용한 신호 매핑 기반의 변위측정 알고리즘

Displacement Measurement Algorithm Based on Signal Mapping in LVDT Structure

  • Son, Jin-Ho (School of Electrical Engineering, University of Ulsan) ;
  • Cho, Sang-Bock (School of Electrical Engineering, University of Ulsan)
  • 투고 : 2011.12.01
  • 발행 : 2011.12.25
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초록

본 논문에서는 LVDT 구조를 이용한 신호 매핑 기반의 새로운 변위측정 알고리즘을 제안한다. 제안하는 방식은 상대 값을 이용한 신호 매핑방식을 사용하기 때문에 PCB상에 구현되는 코일 패턴이나, 트랜스 소자의 변수들에 독립적으로 동작할 수 있다. 이는 절대 값을 사용하면서 발생하는 다수의 튜닝작업이 필요 없고 단지 상대 값을 추출하기 위해 최종단계에서의 범위를 측정하는 캘리브레이션 공정만 필요하다. TI DSP 칩셋인 TMS320F2812에 코일 패턴이 다른 다수의 보드를 통하여 본 논문에서 제안하는 기법을 구현해 본 결과, PCB 코일 패턴이 조악하더라도 높은 정밀도와 신뢰성을 갖는 출력 신호를 얻음으로써 제안하는 기법의 우수성을 검증하였다.

We propose a novel displacement measurement method in the LVDT (Linear Variable Differential Transformer) structure. This proposed algorithm is independent of coil pattern, which may be implemented to PCB, or transformer component, because it is based on the signal-mapping method. we have manufactured several boards which have different coil patterns and our algorithm is ported into TMS320F2812 of TI DSP chipset. The output signal has high accuracy and high stability although PCB coil pattern are coarse.

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