Transport Properties of Charge Carrier in Amorphous Selenium Converter drived by Vacuum Thermal Evaporation Method

진공증착법을 이용한 비정질 셀레늄 변환체의 전하캐리어 이동특성 분석

In this paper, transport properties of charge carrier which is produced by x-ray exposure were investigated.. It is the research of charge transport and specific property of trap that is performed in direct digital x-ray image receptor. We measured transit time and drift mobility of charge carriers of a-Se photoconductor using time-of-flight method. We made a testing glass with a-Se of $100{\mu}m$ thickness on corning glass using thermal evaporation method. As a result of this experiment, electron and hole transit time was each $229.17{\mu}s$ and $8.73{\mu}s$ at $10V/{\mu}m$ electric field and drift mobility was each $0.00174cm^2/V{\cdot}s$, $0.04584cm^2/V{\cdot}s$. But the results shows us different measurement value of electron and charge drift mobility and it was investigated about charge transport properties and trap mechanism.

본 연구에서는 X선 조사에 의해 생성된 전하의 이동현상을 조사하기 위해 비행시간 측정방법을 이용하였다. 이 측정기술은 일반적으로 디지털 X선 영상 변환물질의 전하 트랩 및 수송현상에 유용한 방법이다. 비행시간 측정법을 이용하여 a-Se 광도전체의 전하 수송자의 과도시간 및 이동속도를 측정하였다. 시편제작을 위해 열증착법을 이용하여 유리기판위에 $400{\mu}m$ 두께의 a-Se 필름을 제작하였다. 측정결과, 전자와 정공의 과도시간은 $10V/{\mu}m$의 전기장에서 각각 $229.17{\mu}s$ 와 $8.73{\mu}s$ 였으며, 이동속도는 각각 $0.00174cm^2/V{\cdot}s$, $0.04584cm^2/V{\cdot}s$ 였다. 측정결과, 전자와 정공의 이동 속도의 측정값에 다소 큰 차이를 보였으며, 이 결과로부터 전하수송 및 트랩 기전을 분석하는데 이용하였다.