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Error Correction Code and SEU Test Analysis of Mass Memory for STSAT-3

과학기술위성 3호 대용량 메모리에 대한 오류복구 코드 및 SEU 시험 결과 분석

  • 서인호 (한국과학기술원 인공위성연구센터) ;
  • 유광선 (한국과학기술원 인공위성연구센터) ;
  • 오대수 (한국과학기술원 인공위성연구센터) ;
  • 김병준 (대구경북과학기술연구원)
  • Received : 2009.10.26
  • Accepted : 2009.12.28
  • Published : 2010.01.01

Abstract

RS(10,8) Code by 4-bit symbol was developed to protect the mass memory of STSAT-3 from SEU in orbit. Therefore, one symbol can be corrected for 32-bit data with 8-bit parity configuration. Moreover, scrubbing period and SEU occurrence rate was calculated based on the KITSAT-3 result. A prediction of SEU rates was performed based on the ground experiment results with a proton accelerator in the KIRAMS(Korea Institute of Radiological Medical Sciences).

과학기술위성 3호 대용량 메모리를 SEU로부터 보호하기 위해서 4비트 심볼을 이용하는 RS(10,8) 코드를 개발 하였다. 따라서 32비트 데이터에 대해서 8비트의 페리티를 추가 하였으며 1 심볼에 대해서 에러를 복구할 수 있다. 또한 우리별 3호의 결과를 이용하여 예상되는 SEU 발생률과 스크럽 주기를 계산하였다. 이 결과를 바탕으로 한국원자력 의학원에 있는 Cyclotron 양성자 가속기를 이용하여 SEU 시험을 수행 하였다.

Keywords

References

  1. 곽성우, 박홍영, “과학기술위성 1호 탑재 컴퓨터에서의 SEUs 극복을 위한 메모리 운용 및 해석”, 항공우주학회지, Vol. 32 (1), pp. 98-105, 2004. https://doi.org/10.5139/JKSAS.2004.32.1.098
  2. 곽성우, “과학기술위성 3호 대용량 메모리에서의 SEU 극복 방법 및 확률해석”, 전자공학회 논문지, 제45권 4호, pp. 35-41, 2008.
  3. 김병준, 곽성우, 유상문, 김형신, “과학기술위성 3호 탑재 컴퓨터와 대용량 메모리에 적용될 EDAC 알고리즘의 비교 및 분석”, 2008년도 한국항공우주학회 추계학술발표회, 논문집2, pp. 1586 - 1589.
  4. http://www.informit.com/content/images/art_sklar7_reed-solomon/elementLinks/art_sklar7_reed-solomon.pdf
  5. Kwangsun Ryu, Goo-Hwan Shin, Hyung-Myung Kim, Heejoon Kim, and Kyungwook Min, "Single Event Upset Measurements of Memory Chips for the Langmuir Probe on STSAT-2", Journal of the Korean Physical Society, Vol. 52, No. 3, pp. 853-857, 2008. https://doi.org/10.3938/jkps.52.853