References
- Y. Chen, D. M. Bagnall, H.-J. Koh, K.-T. Park, K. Hiraga, Z. Zhu, and T. Yao, J. Appl. Phys. 84, 3912 (1998) https://doi.org/10.1063/1.368595
- S.-H. Lima, D. Shindoa, H.-B. Kangb, and K. Nakamura, J. Cryst. Growth 225, 208 (2001)
- Z. Yang, J.-H. Lim, S. Chu, Z. Zuo, and J. L. Liu, Appl. Surf. Sci. 255, 3375 (2008)
- J. S. Wang, C. S. Yang, M. J. Liou, C. X. Wu, K. C. Chiu, and W. C. Chou, J. Cryst. Growth 310, 4503 (2008) https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2008.07.108
- K. Hirano, M. Fujita, M. Sasajima, T. Kosaka, and y. Horikoshi, J. Cryst. Growth 301-302, 370 (2007)
- M.-I. Kang, M.-W. Kim, y'-G. Kim, J.-W. Ryu, and H.-O. Jang, J. Kor. Vac. Soc. 17, 204 (2008) https://doi.org/10.5757/JKVS.2008.17.3.204
- D. D. Berkley, B. R. Johnson, N. Anand, K. M. Beauchamp, L. E. Conroy, A. M. Goldman, J. Maps, K. Mauersberger, M. L. Mecartney, J. Morton, M. Tuominen, and Y-J. Zhang, Appl. Phys. Lett. 53, 1973 (1988) https://doi.org/10.1063/1.100489
- S. Watanabe, M. Kawai, and T. Hanada, Jpn. J. Appl. Phys. 29, L1111 (1990) https://doi.org/10.1143/JJAP.29.L1111
- A. Gupta and B. W. Hussey, Appl. Phys. Lett. 58, 1211 (1991) https://doi.org/10.1063/1.104367
- A. Schuhl, R. Cabanel, S. Lequien, B. Ghyselen, S. Tyc, G. Creuzet, and J. Siejka, Appl. Phys. Lett. 57, 819 (1990) https://doi.org/10.1063/1.103430
- P. O' keeffe, S. Komuro, S. Den, T. Morikawa, andy. Aoyagi, Jpn. J. Appl. Phys. 30, 3164 (1991). https://doi.org/10.1143/JJAP.30.3164
- T. Terashima, K. Iijima, K. Yamamoto, Y. Bando, and H. Mazaki, Jpn. J. Appl. phys. 27, L91 (1988) https://doi.org/10.1143/JJAP.27.L91
- K. Yamauchi, K. Takahashi, and E. Yabe, Rev. Sci. Instrum. 64, 2434 (1993) https://doi.org/10.1063/1.1143901
- U. Cvelbar, N. Krstulovic, S. Milosevic, and M. Mozetic, Vacuum 82, 224 (2008)
- C. J. Pan, C. W. Tu, C. J. Tun, C. C. Lee, and G. C. Chi, J. Cryst. Growth 305, 133 (2007) https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2007.04.030
- J. W. Lee, J. H. Choi, S. K. Han, S. M. Yang, S. K Hong, and J. Y. Lee, J. Cryst. Growth 310, 1118 (2008) https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2007.12.033
- S. K. Lee, J. Y. Kim, H. S. Kwack, B. J. Kwon, H. J. Ko, T. Yao, and Y. H. Cho, J. Kor. Vac. Soc. 16, 463 (2007) https://doi.org/10.5757/JKVS.2007.16.6.463
- R. E. Walkup, K. L. Saenger, and G. S. Selwyn, J. Chem. Phys. 84, 2668 (1986) https://doi.org/10.1063/1.450339
- E. J. H. Collart, J. A. G. Baggerman, and R. J. Visser, J. AppL Phys. 70, 5278 (1991) https://doi.org/10.1063/1.350237
- J. Musil, J. Matous, and A. Raj sky, Czech. J. Phys. 43, 533 (1993)
- D. M. Keams, D. R. Gillen, D. Voulot, R. W. 106 McCullough, W. R. Thompson, G. J. Cosimini, E. Nelson, P. P. Chow, and J. Klaassen, J. Vac. Sci. Technol. A 19, 993 (2001) https://doi.org/10.1116/1.1367263
- S. P. Sharma, B. A. Cruden, M. V. V. S. Rao, and A. A. Bolshakov, J. AppL Phys. 95, 3324 (2004) https://doi.org/10.1063/1.1650921
- S. Im, B. J. Jin, and S. Yi, J. AppL Phys. 87, 4558 (2000) https://doi.org/10.1063/1.373102
- T. Makino, G. Isoya, Y. Segawa, C. H. Chia, T. Yasuda, M. Kawasaki, A. Ohtomo, K Tamura, and H. Koinuma, J. Cryst. Growth 214-215, 289 (2000)
- H. J. Ko, Y. Chen, S. K Hong, and T. Yao, J. Cryst. Growth 209, 816 (2000) https://doi.org/10.1016/S0022-0248(99)00726-5