References
- D. Y. He, X. Q.Wang, Q. Chen and J. S. Li, J. Korean Phys. Soc., 46, S88 (2005)
- N. Komiya, R. Nishikawa, M. Okuyama, T. Yamada, Y. Saito, S. Oima, K. Yoneda, H. Kanno, H. Takahashi, G. Rajeswaran, M. Itoh, M. Boroson and T. K. Hatear, Proceeding of the 10th International Workshop on Inorganic and Organic Electroluminescence, 347 (2000)
- K. Sera, F. Okumura, H. Uchida, S. Itoh, s. Karelso and K. Hota, IEEE Trans. Electron Device, 36(12), 2868 (1999) https://doi.org/10.1109/16.40970
- M. A. Crowder, P. G. Garey, P. M. Smith, R. S. Sposili, H. S. Cho and J. S. Im, IEEE Electron Device Lett., 19(8), 306 (1998) https://doi.org/10.1109/55.704408
- M. Yamamoto, H. Nishitani, M. Sakai, M. Gotoh, Y. Taketomi, T. Tautsu and M. Nishitani, Euro Display 99 Proceedings, 53 (1999)
- K. H. Kang, S. J. Lee, B. C. Song, M. S. Bang, S. E. Nam and H. J. Kim, J. Korean Phys. Soc., 44(6), 1552 (2004)
- E. Ibok and S. J. Garg, Electrochem. Soc., 140, 2927 (1993) https://doi.org/10.1149/1.2220934
- S. W. Lee and S. K. Joo, IEEE Electron Device Lett., 17, 160 (1997)
- S. Y. Lee, Y. C. Jeon and S. K. Joo, Appl. Phys. Lett., 66(13), 1671 (1995) https://doi.org/10.1063/1.113888
- J. S. Im and R. S. Sposili, Mat. Res. Bull., 2(3), 1671 (1995)
- J. B. Lee, C. J. Lee and D. K. Choi, Jpn. J. Appl. Phys., 40, 6177 (2001) https://doi.org/10.1143/JJAP.40.6177
- A. R. Song, M.S. Thesis, Hongik University (2000)
- R. Kakkad, J. Smith, W. S. Lau, S. J. Fonash and R. Kerns, J. Appl. Phys., 65, 2069 (1989) https://doi.org/10.1063/1.342851
- K. C. Park, I. H. Song, S. H. Jung, J. W. Park and M. K. Han, AM-LCD 2000, 147 (2000)
- S. J. Lee, B. C. Song, S. H. Kim, S. K. Lee, M. S. Bang and S. E. Nam, J. Korean Phys. Soc., 47(2), 339, (2005)
- A. Gat, L. Gerzberg, J. F. Gibbons, T. J. Magee, J. Peng and J. D. Hong, Appl. Phys. Lett., 33(9), 775 (1978) https://doi.org/10.1063/1.90501
- Y. Kawasaki, T. Murakami, T. Kuroi, Y. Ohno and Y. Matsui, Mat. Chem. and Phys., 54, 17 (1998) https://doi.org/10.1016/S0254-0584(98)00012-1
- D. C. Montgomery and G. C. Runger, Applied statistics and probability for engineers, John Wiley & Sons Inc, 505 (2002)