초록
메모리 소자가 우주 환경에 노출되면 우주 방사능에 의해 메모리의 값이 변하는 SEU 현상이 발생한다. 이러한 현상에 대처하기 위하여 위성체에 사용되는 메모리는 필연적으로 오류 탐지 및 극복 기법을 탑재하고 있다. 본 논문에서는 과학기술위성 3호 대용량 메모리 유닛에서 채택하게 될 오류 탐지 및 극복 방식을 알아본다. 오류 극복을 위해 대용량 메모리를 RS(10,8) Reed-solomon 코드로 인코딩/디코딩했을 때 SEU에 의해 메모리의 데이터가 손상 받을 확률을 계산한다. 이 확률식을 기반으로 과학기술위성 3호가 직면할 수 있는 다양한 SEU 발생율에 대하여 그 확률 변화를 분석한다. 이것으로부터 과학기술위성 3호 대용량 메모리 유닛 설계의 중요한 요소 중의 하나인 메모리 인코딩/디코딩 주기를 결정하는데 이용하고자 한다.
When memory devices are exposed to a space environment. they suffer various effects such as SEU(Single Event Upset). For these reasons, memory systems for space applications are generally equipped with error detection and correction(EDAC) logics against SEUs. In this paper, the error detection and correction strategy in the Mass Memory Unit(MMU) of the STSAT-3 is discussed. The probability equation of un-recoverable SEUs in the mass memory system is derived when the whole memory is encoded and decoded by the RS(10,8) Reed-Solomon code. Also the probability value is analyzed for various occurrence rates of SEUs which the STSAT-3 possibly suffers. The analyzed results can be used to determine the period of scrubbing the whole memory, which is one of the important parameters in the design of the MMU.
