Information Display (인포메이션 디스플레이)

The Korean Infomation Display Society (한국정보디스플레이학회)
권호 표지

AMOLED용 TFT Backplane 최신 기술 동향

  • Published : 2007.10.31
Download PDF
⟨ Previous Next ⟩

Abstract

Keywords

References

  1. J. S. Lewis and M. S. Weaver, IEEE J. Sel. Top. Quant. Elec. 10, 45 (2004) https://doi.org/10.1109/JSTQE.2004.824072
  2. Y. Hong, Z. He, N. S. Lennhoff, D. A. Banach, and J. Kanicki, J. Elec. Mater. 33, 312 (2004) https://doi.org/10.1007/s11664-004-0137-3
  3. A. Sugimoto, H. Ochi, S. Fujimura, A. Yoshida, T. Miyadera, and M. Tsuchida, IEEE J. Sel. Top. Quant. Elec. 10, 107 (2004) https://doi.org/10.1109/JSTQE.2004.824112
  4. D.-U. Jin, J.-K. Jeong, T.-W. Kim, J.-S. Lee, T.-K. An, Y.-G. Mo, and H.-K. Chung, J. SID 14, 1083 (2006)
  5. T. Tsujimura, Y. Kobayashi, K. Murayama, A. Tanaka, M. Morooka, E. Fukumoto, H. Fujimoto, J. Sekine, K. Kanoh, K. Takeda, K. Miwa, M. Asano, N. Ikeda, S. Kohara, S. Ono, C.-T. Chung, R.-M. Chen, J.-W. Chung, C.-W. Huang, H.-R. Guo, C.-C. Yang, C.-C. Hsu, H.-J. Huang, W. Riess, H. Riel, S. Korg, T. Beierlein, D. Gundlach, S. Alvarado, C. Rost, P. Mueller, F. Libsch, M. Mastro, R. Polastre, A. Lien, J. Sanford, and R. Kaufman, Tech. Dig. SID 34, 6 (2003)
  6. Y. Hong, J.-Y. Nahm, and J. Kanicki, IEEE J. Sel. Top. Quant. Elec. 10, 16 (2004) https://doi.org/10.1109/JSTQE.2004.824075
  7. K. S. Girotra, Y.-M. Choi, B.-J. Kim, Y.-R. Song, B. Choi, S.-H. Yang, S. Kim, and S. Lim, J. SID 15, 113 (2007)
  8. L. Zhou, S. Park, B. Bai, J. Sun, S.-C. Wu, T. N. Jackson, S. Nelson, D. Freeman, and Y. Hong, IEEE Elec. Dev. Lett. 26, 640 (2005) https://doi.org/10.1109/LED.2005.853654
  9. H. N. Lee, J. W. Kyung, S. K. Kang, D. Y. Kim, M. C. Sugn, S. J. Kim, C. N. Kim, H. G. Kim, and S. T. Kim, Proc. IDW, 663 (2006)
  10. M.-K. Kang, H. J. Kim, C. W. Kom, and H. G. Kim, Proc. IMID 7, 8 (2007
  11. C. Wu, Z. Meng, J. Li, X. Zhang, G. Yang, S. Xiong, X. Shi, H. Peng, M. Wong, H. S. Kwok, S. Yin, D. Zhang, T. Sun, L. Wang, and Y. Qiu, Tech. Dig. SID 35, 1128 (2004)
  12. H.-S. Choi, J.-S. Choi, S.-K. Hong, B.-K. Kim, and Y.-M. Ha, Proc. IMID 7, 1781 (2007)
  13. A. Chwang, R. Hewitt, K. Urbanik, J. Silvernail, K. Rajan, M. Hack, J. J. Brown, J. P. Lu, C. Shi, J. Ho, R. Street, T. Ramos, L. Moro, N, Rutherford, K. Tognoni, B. Anderson, and D. Huffman, Tech. Dig. SID 37, 1858 (2006)
  14. T. Urabe, T. Sasaoka, K. Tatsuki, and J. Takaki, Tech. Dig. SID 38, 161 (2007)
  15. Y. Hong, J.-Y. Nahm, and J. Kanicki, Appl. Phys. Lett. 83, 3233 (2003) https://doi.org/10.1063/1.1617372
  16. Y. Hong, G. Heiler, R. Kerr, A. Z. Kattamis, I.-C. Cheng, and S. Wagner, Tech. Dig. SID 37, 1862 (2006)
  17. A. Z. Kattamis, N. Giebink, I.-C. Cheng, S. Wagner, S. R. Forrest, Y. Hong, and V. Cannella, J. SID 15, 433 (2007)
  18. C.-D. Kim, I.-B. Kang, and I.-J. Chung, Tech. Dig. SID 38, 1669 (2007)
  19. T. Tsujimura, W. Zhu, S. Mizukoshi, N. Mori, K. Miwa, S. Ono, Y. Maekawa, K. Kawabe, and M. Khono, Tech. Dig. SID 38, 84 (2007)
  20. M. Mizukami, N. Hirohata, T. Iseki, K. Ohtawara, T. Tada, S. Yagyu, T. Abe, T. Suzuki, Y. Fujisaki, Y. Inoue, S. Tokito, and T. Kurita, IEEE Trans. Elec. Dev. 27, 249 (2006) https://doi.org/10.1109/LED.2006.870413
  21. L. Zhou, A. Wanga, S.-C. Wu, J. Sun, S. Park, S. Nelson, D. Freeman, Y. Hong, and T. N. Jackson, Proc. SPIE Defense Security Cockpit Displays, (2006)
  22. I. Yagi, N. Hirai, M. Noda, A. Imaoka, Y. Miyamoto, N. Yoneya, K. Nomoto, J. Kasahara, A. Yumoto, and T. Urabe, Tech. Dig. SID 38, 1753 (2007)
  23. K. Nomur, H. Ohta, K. Veda, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Science 300, 1269 (2003) https://doi.org/10.1126/science.1083212
  24. K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature 432, 488 (2004) https://doi.org/10.1038/nature03090
  25. M.-C. Sung, H.-N. Lee, C. N. Kim, S. K. Kang, D. Y. Kin, S.-J. Kim, S. K. Kim, S.-K. Kim, H.-G. Kim, and S.-T. Kim, Proc. IMID 7, 133 (2007)
  26. J. K. Jeong, M. Kim, J. H. Jeong, H. J. Lee, T. K. ahn, H. S. Shin, K. Y. Kang, H. Seo, J. S. Park, H. Yang, H. J. Chung, Y. G. Mo, and H. D. Kim, Proc. of IMID 7, 145 (2007)
  27. J. Y. Kwon, K. S. Son, J. S. Jung, T. S. Kim, M. K. Ryu, K. B. Park, J. W. Kim, Y. G. Lee, C. J. Kim, S. I. Kim, Y. S. Park, S. Y. Lee, and J. M. Kim, Proc. IMID 7, 141 (2007)
  28. Internal report on degradation and fast relaxation of oxide-based TFT after bias-temperature-stress test