References
- J. M. Kim, W. B. Choi, N. S. Lee and J. E. Jung, Diamond Relat. Mater., 9, 1184 (2000) https://doi.org/10.1016/S0925-9635(99)00266-6
- Q. H. Wang, A. A. Setlur, J. M. Lauerhaas, J. Y. Dai, E. W. Seelig and R. P. H. Chang, Appl. Phys. Lett., 72, 2912 (1998) https://doi.org/10.1063/1.121493
- S. Iijima, Nature, 354, 56 (1991) https://doi.org/10.1038/354056a0
- W. I. Milne, K. B. K. Teo, M. Chhowalla, P. Legagneux, G. Prio and D. Pribat, SID 2002, Dig. Tech. Pap., 1120 (2002)
- W. B. Choi, D. S. Chung, J. H. Kang, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park and J. M. Kim, Appl. Phys. Lett., 75, 3129 (1999) https://doi.org/10.1063/1.125253
- S. Kang, C. Bae, W. Son, M. H. Kim, J. Yi, S. T. Lee, A. Chang, J. J. Kim, C. R. Lee, J. H. Moon, S. H. Lim, H. S. Kim and J. Jang, SID 2003, Dig. Tech. Pap., 802 (2003)
- J. C. Ho, Y. Y. Chang, J. H. Liao, H. C. Cheng, J. R. Sheu, M. C. Hsiao, C. D. Lee, S. M. Huang, C. S. Cho, W. K. Huang, W. Y. Lin and C. C. Lee, SID 2002, Dig. Tech. Pap., 372 (2002)
- R. Meyer, Tech. Dig. Euro Disp., 90, 26 (1990)
- W. J. Zhao, A. Sawada and M. Takai, Jpn. J. Appl. Phys., 41, 4314 (2002) https://doi.org/10.1143/JJAP.41.4314
- D. H. Kim, C. D. Kim and H. R. Lee, Carbon, 42, 1807 (2004) https://doi.org/10.1016/j.carbon.2004.03.015
- T. J. Vink, M. Gillies, J. C. Kriege and H. W. J. J. van de Laar, Appl. Phys. Lett., 83, 3552 (2003) https://doi.org/10.1063/1.1622789
- Y. C. Kim, K. H. Sohn, Y. M. Cho and E. H. Yoo, Appl. Phys. Lett., 84, 5350 (2004) https://doi.org/10.1063/1.1766403
- H. J. Kim, J. H. Han, W. S. Yang, J. B. Yoo, C. Y. Park, I. T. Han, Y. J. Park, Y. W. Jin, J. E. Jung, N. S. Lee and J. M. Kim, Mater. Sci. Eng., 16, 27 (2001) https://doi.org/10.1016/S0928-4931(01)00304-6
- Y. J. An, J. E. Lee, K. E. Cheon, M. A. Karim, K. S. Kim, S. J. Jung and Y. R. Cho, FEW'06, 170 (2006)
- S. Lee, W. B. Im, J. H. Kang and D. Y. Jeon, J. Vac. Sci. Technol., 23, 745 (2005) https://doi.org/10.1116/1.1884120
- J. M. Bonard, J. P. Salvetat, T. Stockli, W. A. Heer, L. Forro, and A. Chatelain, Appl. Phys. Lett., 73, 918 (1998) https://doi.org/10.1063/1.122037
- N. S. Xu, Y. Chen, S. Z. Deng, J. Chen, X. C. Ma and E. G Wang, J. Phys. D: Appl. Phys., 34, 1597 (2001) https://doi.org/10.1088/0022-3727/34/11/307
- Y. R. Cho, J. H. Lee, C. S. Hwang, Y. H. Song, H. S. Uhm, D. H. Kim, S. D. Ahn, C. H. Chung, B. C. Kim and K. I. Cho, Jpn. J. Appl. Phys., 41, 1532 (2002) https://doi.org/10.1143/JJAP.41.1532
- M. S. Seong, J. S. Oh, J. E. Lee, S. J. Jung, T. S. Kim and Y. R. Cho, Kor. J. Mater. Res., 16, 37 (2006) https://doi.org/10.3740/MRSK.2006.16.1.037