Abstract
Electrochemistry of 1.0 mM bis(1,10-phenanthroline)copper(II) $(Cu(ph){_2}^{2+})$ in 100 mM NaCl solution including 27 mM $MgCl_2$ with and without sodium dodecyl sulfate (SDS) is studied. In the presence of SDS, $E_{pa}$ and $E_{1/2}$ of $Cu(ph){_2}^{2+}$ by adding $Mg^{2+}$ shifts to a positive direction compared to the SDS free. The intersection of two lines on ${\Delta}E_p$ vs -log[SDS] plot is determined as a critical micelle concentration (CMC). When $Mg^{2+}$ is added, it seems that the double layer became more compact. And the formation of micelles is retarded.
염화마그네슘 존재하의 비스(1,10-페난트롤린)구리(II) $(Cu(ph){_2}^{2+})$-도데실황산나트륨(SDS)의 전기화학적 거동들이 고찰되었다. $Mg^{2+}$의 첨가에 의한 SDS의 용액에서 $Cu(ph){_2}^{2+}$의 $E_{pa}$와 $E_{1/2}$ 값은 양의 값으로 이동했다. 1.0 mM $Cu(ph){_2}^{2+}$의 27 mM $MgCl_2$을 포함한 100mM NaCl 용액에서, ${\Delta}E_p$ 대 -log[SDS]로 도시한 그림에서 두 선의 교차점을 임계미셀농도로 결정하였다 (순환 전압전류법에 의해 3.48 mM SDS; 표면 장력법에 의해 3.34 mM SDS). $Cu(ph){_2}^{2+}$의 용액에 $Mg^{2+}$가 첨가되었을 때 유리탄소전극에서의 이중층의 거리가 감소했고 미셀형성이 지연되었다.