웨이블릿 변환을 이용한 FPD 결함 검출

Defect Detection of Flat Panel Display Using Wavelet Transform

  • 김상지 (㈜ 쓰리비 시스템) ;
  • 이연주 (이화여자대학교 수학과) ;
  • 윤정호 (이화여자대학교 수학과) ;
  • 유훈 (동서대학교 컴퓨터정보공학부) ;
  • 이병국 (동서대학교 컴퓨터정보공학부) ;
  • 이준재 (동서대학교 컴퓨터정보공학부)
  • 발행 : 2006.08.25

초록

평판 디스플레이 장치(FPD)의 패널 표면 결함 검출에서 일반적으로 사용되는 단순 문턱값에 의한 결함 검출은 FPD 패널 영상의 불균일한 휘도 변화로 인하여 정확한 결함 검출이 어렵다. 본 논문에서는 이러한 불균일한 휘도 변화를 보상하고, 정확한 결함 검출을 위해 다 해상도 분석방법인 웨이블릿 변환에 기반하여 높은 고주파 잡음제거와 함께 낮은 저주파를 제거함으로써 불균일한 휘도 변화를 보상할 수 있는 알고리즘을 제안하고 구현 하였다. 특히 제조 공정에서의 결함 검출을 실시간 인라인으로 적용하기 위해 리프팅 기반 고속 알고리즘으로 구현하였다.

Due to the uneven illumination of FPD panel surface, it is difficult to detect the defects. The paper proposes a method to find the uneven illumination compensation using wavelets, which are done based on multi-resolution structure. The first step is to decompose the image into multi-resolution levels. Second, elimination of lowest smooth sub-image with highest frequency band removes the high frequency noise and low varying illumination. In particular, the main algorithm was implemented by lifting scheme for realtime inline process.