워드지향 메모리에 대한 동적 테스팅

Dynamic Testing for Word - Oriented Memories

본 논문에서는 워드지향 메모리 내에서 셀 사이의 커플링 결함을 검출하기 위한 고갈 테스트 발생(exhaustive test generation) 문제를 연구하였다. 셀 사이의 거플링 결함 모델에 따르면 n 워드를 갖는 메모리 내에서 w-비트 메모리 내용 또는 내용의 변화는 메모리 내의 s-1 워드 내용에 따라 영향을 받는다. 이때 검사 패턴 구성을 위한 최적의 상호작용 방법을 제안 하였으며, 제안한 검사 결과의 체계적인 구조는 간단한 BIST로 구현하였다.

This paper presents the problem of exhaustive test generation for detection of coupling faults between cells in word-oriented memories. According to this fault model, contents of any w-bit memory word in a memory with n words, or ability tochange this contents, is influenced by the contents of any other s-1 words in the memory. A near optimal iterative method for construction of test patterns is proposed The systematic structure of the proposed test results in simple BIST implementations.