EFM(electrostatic force microscopy)를 이용한 탄소나노튜브의 연구

Study of Carbon Nanotubes by Electrostatic Force Microscopy

  • 박훈 (순천향대학교 정보물리학과) ;
  • 서유석 (순천향대학교 정보물리학과) ;
  • 홍진수 (순천향대학교 정보물리학과) ;
  • 채희백 (순천향대학교 정보물리학과)
  • 발행 : 2005.02.01

초록

EFM(electrostatic force microscopy)을 이용하여 탄소나노튜브를 측정하였다. EFM 위상 이미지론 얻었을 때, 위상차(${\Delta}{\phi}^{-l/2}$)와 탄소나노튜브 길이(L)의 역수는 선형관계를 보였다. 또한 위상차는 캔틸레버 팁과 탄소나노튜브 사이의 거리(h)의 제곱에 반비례하였다.

We used electrostatic force microscopy to probe carbon nanotubes. There is a linear relationship between the phase shift (${\Delta}{\phi}^{-l/2}$) and the inverse tube length ($L^{-1}$) of carbon nanotubes. When the distance(h) between the tip and the carbon nanotubes increase, the phase shift on EFM image decrease by a factor of $1/h^2$

키워드