References
- B. W. Byrum Jr, IEEE Trans. Electron Devices 22, 685 (1975) https://doi.org/10.1109/T-ED.1975.18204
- T. Ugrade, T. lemori, M. Osawa, N. Nakayama, I. Morita, IEEE Trans. Electron Devices 23, 313(1976) https://doi.org/10.1109/T-ED.1976.18397
- E. H. Choi et. al., Jpn. J. Appl. Phys. 38, 6073(1999) https://doi.org/10.1143/JJAP.38.6073
- H. D. Hagstrum, Phys. Rev. 96, 336 (1954) https://doi.org/10.1103/PhysRev.96.336
- G. S. Cho, Y. G. Kim, Y. S. Kim, J. J. Koh and E. H. Choi, Jpn. J. Appl. Phys. 37-10A, L1178 (1998)
- Y. K. Shin, J. K. Lee, C. H. Sohn, W. Kim, Jpn. J. Appl. Phys. 38, L174 (1999) https://doi.org/10.1143/JJAP.38.L174
- J. Kester, J. Chapin, P. O'Keefe, E. Taylor, F. Krannig, IDW'99, 703 (1999)
- N. Nakamura, H. Nakagawara, K. Kisoda, M Niiya, IDW'98, 511 (1998)
- E. H. Choi, H. J. Oh, Y. G. Kim, J. J. Ko, J. Y. Lim, J. G. Kim, D. I. Kim, G. Cho, S. O. Kang, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 7015 (1998) https://doi.org/10.1143/JJAP.37.7015
- E. H. Choi, J. Y. Lim, Y. G. Kim, J. J. Ko, D. I. Kim, C. W. Lee, G. S. Cho, J. Appl. Phys. 86, 6525(1999) https://doi.org/10.1063/1.371618
- D. I. Kim, J. Y. Lim, Y. G. Kim, J. J. Ko, C. W. Lee, G. S. Cho, E. H. Choi, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 1890(2000) https://doi.org/10.1143/JJAP.39.1890
- S. K. Lee, J. H. Kim, J. Lee, K. W. Whang, Thin Solid Films, 435(2003) 69-71 https://doi.org/10.1016/S0040-6090(03)00372-9
- H. Lin, Y. Harano, H. Uchiike, Technical Report of IEICE. EID95-51(1995) 69-73
- J. Y. Lim, J. S. Oh, B. D. Ko, J. W. Cho, S. O. Kang, G. S. Cho, H. S. Uhm, E. H. Choi, J. Appl. Phys, 94. No.1(2003) 764-769 https://doi.org/10.1063/1.1581376
- Elsbergen V v, Bachmann P K and Zhong G 2000 Int. Display Workshop IDW'00 687
- J. P. Boeuf, J. Phys. D: Appl. Phys. 36 (2003)R53-R79
- M. Ishmoto, S. Hidaka, K. Betsui, and T. Shinoda SID'99, P. 6525
- T. J. Vink, A. R. Balkenende, R. G. F. A. Verbeek, H. A. M. Van Hal and S. T. de Zwart, App. Phys. Letters. Vol. 80, No. 12 (2002)
- S. Y. Park, M. J. Lee, S. G. Kim, H. J. Kim, S. H. Moon, J. K. Kim, Asia Display/IMID'04, p. 223-226
- M. J. Lee, S. Y. Park, S. G. Kim, H. J. Kim, S. H. Moon, J. K. Kim, Asia Display/IMID'04, p. 540-543
- J. Y. Lim et. al., IDW99, 639 (1999)
- C. H. Park, Y. K. Kim, B. E. Park, W. G. Lee, J. S. Cho, Materials Science and Engineering B60(1999) 149-155J
- J. Y. Lim, H. S. Jeong, W. B. Park, J. S. Oh, E. H Choi, IDW'03 961-964
- J. M. Jeoung, J. Y. Lim, Y. G. Kim, Y. H. Seo, G. S. Cho, E. H. Choi, Jpn. J. Appl. Phys. Vol 40(2001)1433-1434 https://doi.org/10.1143/JJAP.40.1433
- H. Soh, S. M. Lee, Y. C. Kim, Asia Display/IMID'04 p.495-498
- 정진만, 임재용, 조태승, 조대식, 조광섬, 최은하, 새물리 40, 580 (2000)
- Holt S A, Jones C F, Watson G S, Crossley A, Johnston C, Sofield C and Myhra S Thin Solid Films 292 (1997) 96 https://doi.org/10.1016/S0040-6090(96)08955-9
- J. Y. Lim, E. H. Choi, IDW'2000 (2000)
- J. C. Jung, H. S. Jeong, J. H. Lee, J. S. Oh, W. B. Park, J. Y. Lim, J. W. Cho, E. H. Choi, IMID'03 p.525-528
- S. H. Lee, B. J. Rhee, M. H. Joo, J. W. Kang, J. S. Chung, M. H. Park, Surface&Coatings Technology 171 (2003) 247-251 https://doi.org/10.1016/S0257-8972(03)00280-9
- H. K. Hwang, C. H. Jeong, Y. J. Lee, Y. W. Ko, G. Y. Yeom, Surface and coating Technology, 177-178 (2004) 705-710 https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2003.08.010
- J. H. Choi, Y. Jung, K. B. Jung, S. B. Kim, P. Y. Oh, H. S. Jung, K. Y. Sung, E. H. Choi, IDW'03, p.913-916
- J. W. Han, H. S. Tae, S. I. Chien, IDW'03 p.917-920
- H. S. Jeong, J. E. Lim, W. B. Park, K. B. Jung, E. H. Choi, IMID'03, p. 518-521
- J. E. Lim, W. B. Park, H. S. Jeong, K. B. Jung, W Joen, H. J. Lee and E. H. Choi, IDW'04, PDPp5-2(2004)
- S. H. Choi, H. S. Byun, G. Y. Shin, S. G. Oh, S. I Lee, J. Vac. Sci. Technol. B., 21(1) (2003) 39 https://doi.org/10.1116/1.1529655
- C. H. Ha, J. S. Kim, D. C. Jeong, K. W. Hwang, J. Appl. Phys., 96, No. 9 (2004) 4807-4810 https://doi.org/10.1063/1.1803943
- H. Capdeville, P. Pedoussat, L. C. Pitchford, J. Appl. Phys., 91, No.3, (2002) 1026-1030 https://doi.org/10.1063/1.1430891
- J. Yoon, I. S. Lee, J. Appl. Phys., 91, No-4, (2002)2487-2492 https://doi.org/10.1063/1.1433928
- J. W. Hyun, H. J. Oh, D. C. Choo, E. H. Choi, T. W. Kim, G. S. Cho, S. O. Kang, J. Kor. Vac. Soc., 10, No.4 (2001) p. 396-402
- J. K. Kim, E. S. Lee, D. H. Kim, D. G. Kim, Thin Solid Films, 447-448 (2004) 95-99 https://doi.org/10.1016/j.tsf.2003.09.029
- G. S. Cho, Y. G. Kim, Y. S. Kim, D. G. Joh, E. H. Choi, Jpn. J. Appl. Phys., 10A, Part2 (1998) L1178
- S. S. Yang, J. K. Lee, S. W. Ko, H. C. Kim, J. W. Shon, Contrib. Plasma Phys., No.5-6, 44 (2004)536
- W. B. Park, K. B. Jung, J. C. Jeong, G. S. Cho, E. H. Choi, IDW'04 PDPp5-1 (2004)