Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SP (대한전자공학회논문지SP)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
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Ridge Feature Extraction of Fingerprint Using Sequential Labeling

순차적 레이블링을 이용한 지문 융선 특징 검출

  • Published : 2003.05.01
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Abstract

A novel fingerprint ridge feature extraction using sequential labeling of thinned fingerprint image is proposed, which is invariant to position translation, scaling, and rotation. the proposed algorithm labels ridges of thinned fingerprint image sequentially using vertical line that goes through fingerprint core point. Then, we extract a feature from each labeled ridge and the extraction process is based on the type fo the ridge and a minutiae ridge angle in the ridge. The feature extracted through this process enables us to find out the kind of various minutiae and minutiae angle. As a result of the experiment using two thinned fingerprint images, we finally confirm that proposed algorithm is not related to position translation, scaling, and rotation.

본 논문에서는 세선화 지문 영상의 순차적 레이블링을 이용하여 위치 이동, 크기 변화 그리고 회전에 무관한 새로운 지문 융선 특징 검출 알고리즘을 제안한다. 제안한 알고리즘은 먼저 지문의 중심점을 지나는 수직선을 이용하여 세선화 지문 영상의 융선을 순차적으로 레이블링 한다. 그리고 레이블링한 개개의 융선들로부터 특징을 검출한다 검출하는 특징은 융선의 종류와 융선에 존재하는 특징점의 융선 각도이다. 이러한 방법을 이용하여 지문 융선의 특징을 검출하면, 지문을 이루고 있는 여러 융선들의 종류를 알 수 있고, 각 융선에 존재하는 특징점의 종류 및 이들의 각도를 알 수 있다. 두 개의 세선화 지문 영상을 이용하여 실험한 결과, 제안하는 알고리즘이 위치 이동, 크기 변화 그리고 회전에 무관한 지문 융선 특징을 검출함을 확인하였다.

Keywords

References

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