정보학연구 (The Journal of Information Technology)
- 제6권3호
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- Pages.75-85
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- 2003
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- 1229-3024(pISSN)
특허정보를 이용한 기술수명주기 평가에 관한 연구
A study on the technology life-cycle using patent information
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Yoo Sung-Hee
(KISTI) ;
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Jeong Hye-Soon
(KISTI) ;
- Kim Heon (Dept. of Business Management, Cheonan University)
- 발행 : 2003.09.01
초록
기업의 R&D 투자의사결정이나 기술획득 및 이전 성과를 평가하고 의사결정에 필요한 정보를 얻기 위해서는 기술의 경제적 가치를 정확하게 평가하는 것이 요구된다. 기업뿐만 아니라 공공부문에서도 막대한 R&D 투자의 성과를 객관적으로 측정하고 평가하는 것은 매우 긴요한 의미를 가진다. 따라서 기술가치를 객관적으로 평가할 수 있고 더욱이 구조화된 평가방법을 구축하는 것은 학문적으로나 실무적으로 그 유용성이 매우 높다고 할 수 있다. 많은 연구에서 특정 기술의 누적 특허정보를 이용하여 기술수명주기 모형에의 적합성을 검증하고 국가간 기술적 위치와 그 변화 추세가 결정될 수 있음이 나타나고 있다. 그러므로 개별 기술의 가치를 평가함에 있어서도 특허정보를 기술의 경제적 가치를 평가하는 척도로 활용한다면 구조화된 기술가치 및 R&D 성과평가시스템의 구축에 기여할 수 있을 것으로 판단된다. 따라서 본 연구는 특허정보를 이용하여 기술수명주기를 예측하는 것이 타당한 것인지를 특정기술의 사례를 중심으로 탐색하는 것을 목적으로 한다.
It is highly required to evaluate the economic value of technology in many decision making of the technology management area, for example, technology acquisition, transfer, and investments. Also evaluating the performance of R&D objectively is very important subject in the public side. So, developing the objective technology evaluation system has much usefulness in practice. In many studies, the patent information has been suggested to the valid measurement for evaluation of technology. The purpose of this study is to explore the validity of patent information as a measurement of technology evaluation.
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