Uniformity estimation mathod and application of thin film in Coating lenses

Coating 렌즈에서 박막의 균일성 평가 방법 및 적용

Use spctrophotometer to estimate thin film uniformity of lens, Compare, and analyze thin film uniformity availability selecting two peaks of Reflectance(R%) measuring on spectrum. Wavelength dependence's Reflectance in position of center, middle and edge of lens etc... obtain thin film's thickness (t) from Wavelength region (${\lambda}_1,{\lambda}_2$) of two peaks of Reflectance. $$t=\frac{1}{2(n^2-\sin^2{\theta})^{1/2}}{\times}\frac{{\lambda}_1{\lambda}_2}{{\lambda}_2-{\lambda}_1}$$ If Reflectance pattern is uniformity value in position of center middle of lens, edge etc... thin film has uniformity. Applied thin film uniformity estimation method to 1st layer $MgF_2$(n=1.38) coating lens. It was about thin film's thickness difference 360nm. Can analyze coating lens' thin film uniformity easily from Reflectance relationship measurement about Wavelength dependence.

렌즈의 thin film 균일성을 평가하기 위하여 spctrophotometer를 이용한다. 렌즈의 중심 중간, edge 등의 지점에서 파장의존상의 반사율을 측정하여 반사율 spectrum의 두 peak를 선택하여 비교하여, 박막 균일성 여부를 분석한다. 반사율의 두 peak의 파장 영역(${\lambda}_1,{\lambda}_2$)으로부터 thin film의 thickness(t)를 구한다. $$t=\frac{1}{2(n^2-\sin^2{\theta})^{1/2}}{\times}\frac{{\lambda}_1{\lambda}_2}{{\lambda}_2-{\lambda}_1}$$ 렌즈의 중심 중간, edge 등의 지점에서 반사율 pattern이 동일 값이면 coating 렌즈의 박막은 균일성 갖는다. coating 렌즈의 박막 균일성 평가 방법을 단층막 $MgF_2$(n=1.38) coating 렌즈에 적용하였다. 박막의 thickness 차이는 360nm 정도였다. 파장의존성에 대한 광반사율의 측정으로부터 coating 렌즈의 박막 균일성을 쉽게 분석할 수 있다.