DOI QR코드

DOI QR Code

THERMAL ANALYSIS OF FIMS TDC AND LVPS ELECTRONIC BOARDS

원자외선 분광기 TDC 및 LVPS 전자보드의 열 해석

  • Seon, K.I. (Space Science Research Division, Korea Astronomy Observatory) ;
  • Yuk, I.S. (Space Science Research Division, Korea Astronomy Observatory) ;
  • Nam, U.W. (Space Science Research Division, Korea Astronomy Observatory) ;
  • Jin, H. (Space Science Research Division, Korea Astronomy Observatory) ;
  • Park, J.H. (Space Science Research Division, Korea Astronomy Observatory) ;
  • Rhee, J.G. (Space Science Research Division, Korea Astronomy Observatory) ;
  • Ryu, K.S. (Satellite Technology Research Center, KAIST) ;
  • Lee, D.H. (Satellite Technology Research Center, KAIST) ;
  • Oh, H.S. (Satellite Technology Research Center, KAIST) ;
  • Kong, K.K. (Space Science Research Division, Korea Astronomy Observatory) ;
  • Han, W. (Space Science Research Division, Korea Astronomy Observatory) ;
  • Min, K.W. (Satellite Technology Research Center, KAIST) ;
  • Edelstein, J. (Space Sciences Lab., Uni. of California, Berkeley) ;
  • Korpela, E. (Space Sciences Lab., Uni. of California, Berkeley)
  • 선광일 (한국천문연구원 우주과학연구부) ;
  • 육인수 (한국천문연구원 우주과학연구부) ;
  • 남욱원 (한국천문연구원 우주과학연구부) ;
  • 진호 (한국천문연구원 우주과학연구부) ;
  • 박장현 (한국천문연구원 우주과학연구부) ;
  • 이진근 (한국천문연구원 우주과학연구부) ;
  • 유광선 (한국과학기술원 인공위성연구센터) ;
  • 이대희 (한국과학기술원 인공위성연구센터) ;
  • 오승한 (한국과학기술원 인공위성연구센터) ;
  • 공경남 (한국천문연구원 우주과학연구부) ;
  • 한원용 (한국천문연구원 우주과학연구부) ;
  • 민경욱 (한국과학기술원 인공위성연구센터) ;
  • ;
  • Published : 2002.12.01

Abstract

Electronic boards of Far-ultraviolet IMaging Spectrograph (FIMS) should be designed to maintain their performances, and their temperatures should be remained within the allowed temperatures in operational environments. Thermal analysis at the electronic board level has been performed, and it is confirmed the electronics parts could be kept within their allowed temperature ranges.

과학위성 1호의 탑재체 원자외선 분광기의 전자보드는 인공위성 운영시 경험하는 환경하에서 전자적 성능을 유지하기 위하여 전자부품의 온도가 지나치게 높아지지 않도록 열적 특성을 고려하여 설계하여야 한다. 이를 위하여 원자외선 분광기의 전자부의 보드수준에서 열 해석을 수행하였고, 원자외선 분광기의 작동환경하에서 전자부품의 허용온도 범위내에서 온도가 유지될 수 있음을 확인하였다.

Keywords

References

  1. 강경인, 선종호, 선광일 2001, private communicatio(http://satrec.kaist.ac.kr)
  2. 김진희, 김성훈, 이주훈, 황도순 2000, 한국항공우주학회지, 28, 133
  3. 김진희, 이주훈, 황도순, 김성훈 1999, MSC Korea User's Conference, 10, 23
  4. 선광일, 유광선, 육인수, 박장현, 남욱원, 한원용, 선종호, 민경욱, Edelstein, J., & Korpela, E. 2000, 한국우주과학회지, 17, 77
  5. 유광선, 선광일, 민경욱, & Edelstein, J. 1998, 한국항공우주학회지, 15, 359
  6. 황도순 1999, 한국항공우주학회지, 27, 111
  7. Analog Devices Inc. 2000, ADI Reliability Handbook (http://www.analog.com/corporate/quality/manuals/)
  8. Azar. K., & Graebner, J. X. E. 1996, Proceedings of SEMI-THERM XII Conference, helded ing Texas Austin USA, 169
  9. Graebner, J. E. 1995 in Technical Brief, Electronics Cooling Magazine, 1
  10. Guenin, B. M. 2001, in Calculation Corner, Electronics Cooling Magazine, 7
  11. JEDEC 1995, EIA/JESD51, Methodology for the Thermal Measurement of Component Parkages(Arlington: JEDEC)
  12. Texas Instruments 1999, Thermal Characteristics of Linear and Logic Packages Using JEDEC PCB Designs (http://www.ti.com)