초록
레이저 다이오드의 동작 수명을 예측하고 안정화된 성능과 신뢰도를 만족하기 위해서는 검증된 시스템으로 광부품의 신뢰성 테스트를 수행하는 것이 중요하다. 본 연구에서는 온도와 인가 전류에 따른 접합 온도(junction temperature) 특성을 관찰하여 실제 주위 온도 ( $T_{A}$)와 광소자의 온도( $T_{j}$) 차이를 이론 및 실험 적으로 도출하였고, 이를 토대로 정밀한 burn-in 테스트를 위한 screening 조건을 설정해 제시하였다.하였다.
To extract exact screening conditions of TO-CAN laser diode, junction temperature during screening was investigated. Temperature increase due to thermal resistance was measured and compared with theoretical calculation. Injection current dependence of injection temperature was derived with good agreement with experimental data and used to obtain accurate screening conditions.
