Study on the Power Loss of High Frequency Mn-Zn ferrites

고주파 Mn-Zn ferrites 전력손실에 대한 고찰

  • Published : 2002.10.01

Abstract

To minimize the size of transformer volume, the operating frequency of ferrites cores increasing. The power loss of Mn-Zn ferrites comprises hysteresis loss, eddy current loss and residual loss. In the range more then 500 KHz, the total power loss is mainly due to the residual loss. The power loss increase with the frequency 3rd power. To minimize residual loss as well as eddy current loss, the microstructure should have small grain and high density, It should be noted that as the product of resonance frequency and static permeability increase, the power loss decrease at high frequency region.

최근 전자기기의 경박단소화로 페라이트 코아의 사용주파수가 고주파화 되고 있다. Mn-Zn ferrites에서 전력손실은 hysteresis loss, eddy current loss, residual loss로 구성되어 있으며, 500 KHz 이상의 주파수 영역에서는 residual loss가 주도적인 손실을 나타낸다. Induction level이 50 mT 이하인 경우 전력손실은 주파수의 3승 이상에 비례하여 증가한다. 작은 grain과 치밀한 미세구조는 고주파 대역에서 eddy current loss를 감소시킬 뿐만 아니라 자속밀도를 증가시켜 Residual loss역시 억제한다. Resonance frequency와 static permeability를 곱한 값이 큰 시편일수록 고주파 영역에서 낮은 전력손실을 보인다.

Keywords

References

  1. E. Otsuki et al, J. Appl. : Phy., Vol. 1, pp.5947 (1991)
  2. E. Otsuki and S. Yamada : ICF-7, pp.C1-113 (1997)
  3. S. Yamada, E. Otuki: IEEE, MAG-31(6), pp.4062 (1995) https://doi.org/10.1109/20.489862
  4. S. Yamada, E. Otuki : J. Appl. Phy., Vol. 81(8), pp.4791(1997) https://doi.org/10.1063/1.365465
  5. M. J. Tung, et al : ICF-7 pp.C1-129 (1997)
  6. H. Saotome, T. Kawai and Y. Sakaki : ICF-7 pp.C1-119(1997)
  7. H. Koboki, A. Fujita, and S. Gotoh: ICF-7 pp.C1-103 (1997)
  8. R. Lebouigeois, P. Perriat, and M. Labeyrie : ICF-6 pp.1159(1992)
  9. J. L. Snoek : Physica, Vol. 14, pp. 207 (1948) https://doi.org/10.1016/0031-8914(48)90038-X
  10. M. Guyot and V. Cagan : JMMM, Vol. 27, pp202 (1982) https://doi.org/10.1016/0304-8853(82)90273-6
  11. M. Drofenik et al. : J. Appl. Phy., Vol. 82(1), pp.333(1997) https://doi.org/10.1063/1.365817
  12. H. Saotome, Y. Sakaki : IEEE, MAG-33(1), pp.728 (1995)