Electrical & Electronic Materials (E2M - 전기 전자와 첨단 소재)

Volume 15 Issue 5
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Pages.26-31
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2002
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2982-6268(pISSN)
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2982-6306(eISSN)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)

권호 표지

신경회로망을 이용한 반도체 패키지의 결함검사용 알고리즘 개발

김재열 (조선대 기계공학부) ;
송민종 (광주보건대학 의료정보학과장) ;
김창현 (조선대 대학원 기계공학부)

Published : 2002.05.01

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Abstract

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