ARAS용 TiN_x 광학박막의 설계제작과 특성연구

The design and characteristic of the TiN_x optical film for ARAS coating

$TiN_xW_y$ 전도박막층으로 무반사, 무정전 광학박막을 Essential Macleod 프로그램을 이용하여 설계한 결과 [공가 ${\mid}TiN_xW_y{\mid}SiO_2{\mid}$ 유리]층은 단 두층코팅막으로 가시광선 파장영역 (450~700 nm)에서 넓게 AR 코팅이 되었다. RF magnetron 스퍼터링 장치에 질소가스와 아르곤가스를 동시에 주입하면서 Ti 타켓을 스퍼터링하여 $TiN_x$ 광학박막을 7 nm에서 10 nm의 두께로 유리기판 위에 제작하였다. 이 때 박막의 화학적 조성과 성분비를 분석하기 위해 XPS를 사용하였고, 박막의 면저항과 화화적 조성과의 관계를 분석하기 위하여 XPS depth profiling과 4점탐침법을 사용하였다.

The anti-reflective anti-static(ARAS) optical film Was designed using conducting layer $TiN_x$ by Essential Macleod program. From this results, [air ${TiN_x{\mid}SiO_2{\mid}$ glass] two layer shows wide-band AR coating in the wavelength range of 450~700 nm. The $TiN_x$ thin films were prepared on the glass substrate by RF(radio-freqency) magnetron sputtering apparatus from a Ti target in agaseous mixture of argon and nitrogen with the thickness of 7~10 nm. For the films obtained, the chemical binding energy of the films was investigated by x-ray photoelectron spectroscopy(XPS) in order to analyze the chemical nature and composition of the films. In addition, we investigated the relationship between the surface resistance and the chemical nature the sheet resistance and XPS depth profiling the chemical binding of the films.