Abstract
본 연구에서는 dc 마그네트론 스터링법으로 CoSm 박막을 제작하여 자기적 성질의 자성층 두께 의존성을 조사하였다. 고밀도 자기기록 매체의 여러 가지 성질 중 자기역전부피는 자기기록 매체에 저장된 정보의 열적 안정성, 자화반전기구 및 잡음을 이해하는 데 매우 중요한 자료가 된다. 따라서 자기화 감쇄의 시간 의존성과 직류 demagnetization remanence 곡선 측정결과로부터 각각 점성계수와 비가역 자화율을 구한 다음 최대 점성계수 및 비가역 자화율을 이용하여 최대 자기역전부피의 두께 의존성을 조사하였다. 자기역전부피와 보자력은 CoSm의 두께가 48 nm와 24 nm에서 각각 최대를 보이다가 오히려 감소하였으나 자기이방성은 계속 증가하는 경향을 보였다. 이와 같은 현상은 자성층의 두께가 증가함에 따라 결정립 또는 nanocrystallites 사이의 자기적 교환 상호작용이 증가하기 때문인 것으로 해석된다.
The magnetic switching volume is known as an important parameter to understand the magnetization reversal process, thermal stability of the written information and media noise. This parameter is influenced significantly by the microstructure of the magnetic layer as well as underlayer. Therefore, we fabricated CoSm/Cr thin films with varying magnetic layer thickness under constant sputtering by using a dc magnetic sputtering machine. The magnetic layer thickness effect on the magnetic switching volume have been studied by the means of magnetic viscosity and dc demagnetization remanence curve mesurements. From these measurements, we found that the switching volumes increased with increasing the magnetic layer thickness, whereas the coercivity showed different behavior. These may be a result of the increased intergranular coupling and the larger volume fraction of the magnetic layer.
