Abstract
Magnetoresistance and Planar Hall effect of Glass/Ni$\sub$83/Fe$\sub$17/(2 nm)/[Cu(2 nm)Ni$\sub$83/Fe$\sub$17/(20 nm)]$\sub$50/ multilayer were measured. Repeated saw tooth like planar Hall effect signal was observed in the range of magnetization reversal process, while no sign of such saw tooth was observed in Magnetoresistance diagram. For the reason of saw tooth like signal, it is supposed that subsequent abrupt domain wall motion of each magnetic layer in the process of magnetization reversal process was observed in planar Hall effect in transverse direction to the current direction. This fine structure of planar Hall effect was observed for applied fields in any direction. Magnetoresistance curve did not show this fine structure of magnetization reversal, of course, since only net magnetization of each layer has to do with the resistivity. Extended research on the reason of this sawtooth like signal should be conducted.
Glass/Ni$_{83}$Fe$_{17}$(2 nm)/[Cu(2 nm)Ni$_{83}$Fe$_{17}$(20 nm)]$_{50}$ 다층박막의 평면 홀 효과를 측정하였다. 평면 홀 효과에서 반복된 톱니모양의 홀 효과 신호가 관측되었다. 그 원인으로 갑작스러운 자벽의 이동이 홀 효과로 관측된 것이라는 가설을 세울 수 있다. 이러한 톱니모양의 평면 홀 효과는 모든 측정방향에서 관측되었다. 각 자성층의 전체 자화만이 자기저항을 결정하므로 자기저항의 특성곡선에서는 이러한 톱니모양에 해당하는 신호가 관측되지 않았다. 톱니모양의 근본 원인에 대한 연구는 더욱 수행되어야할 것이다.것이다.
