Polymer Science and Technology
(한국고분자학회지:고분자과학과기술)
Volume 11 Issue 6
/
Pages.798-805
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2000
/
1225-0260(pISSN)
/
2586-1476(eISSN)
The Polymer Society of Korea (한국고분자학회)
고분자 표면분석을 위한 비행시간형 이차이온 질량분석(TOF-SIMS) 기술
이연희
(한국과학기술연구원 특성분석센터)
Published : 2000.12.01
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