The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences (한국통신학회논문지)

The Korean Institute of Commucations and Information Sciences (한국통신학회)
권호 표지

A Study on Implementation of Boundary SCAN and BIST for MDSP

MDSP의 경계 주사 기법 및 자체 테스트 기법 구현에 관한 연구

  • 양선웅 (숭실대학교 대학원 컴퓨터공학과 컴퓨터구조연구실) ;
  • 장훈 (숭실대학교 컴퓨터학부) ;
  • 송오영 (중앙대학교 제어계측학과)
  • Published : 2000.11.01
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Abstract

본 논문에서는 휴대 멀티미디어 응용을 위한 MDSP(Multimedia Fixed Point DSP) 칩의 내장 메모리 테스트와 기판 수준의 테스트를 지원하기 위해 내장 메모리 테스트를 위한 자체 테스트 기법, 기판 수준의 테스트 지원 및 내장 메모리를 위한 자체 테스트 회로를 제어하기 위한 경계 주사 기법을 구현하였다. 본 논문에서 구현한 기법들은 Verilog HDL을 이용하여 회로들을 설계하였으며, Synopsys 툴과 현대 heb60 라이브러리를 이용하여 합성하였다. 그리고 회로 검증을 위한 시뮬레이터는 Cadence사의 VerilogXL을 사용하였다.

Keywords

References

  1. Digital system testing and testable design M.Abramovici;M.A.Breuer;A.D.Friedman
  2. Digital Hardware Testing:Transister-Level Fault Modeling and Testing R.Rajsuman
  3. 전자공학회지 v.22 no.12 메모리 테스트를 위한 BIST 기술 김대우;배성기;이창기;이상진;전병실
  4. PCI 버스 해설과 인터페이스 카드 설계 박선호
  5. IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture Test Technology Srandards Committee
  6. 테스팅 및 테스팅을 고려한 설계 홍성제;강성호;박은세;장훈;최호용
  7. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice A.J.Goor
  8. IEEE International Test Conference A Realistic Self-Teat Machine for Static Random Access Memories R.Dekker;F.Beenker;L.Thijseen
  9. Testing and Testable of High-Density Random-Access Memories Pinaki Mazumder;Kanad Chakraborty