Michelson 간섭계를 이용한 굴절률 측정

The Measurement of Refractive Index by using Michelson Interferometer with Rotating Sample

안경렌즈의 재질개발에서 중요하게 고려하는 것 중 하나는 높은 굴절률을 갖는 물질을 개발하는 것이다. 본 연구에서는 비교적 값싸면서 쉽게 굴절률을 얻을 수 있는 굴절률 측정법으로 Michelson 간섭계에 의한 평판시료의 굴절률 측정장치를 고안하고 이론식을 도출하였다. 고안된 굴절률 측정장비로 굴절률을 측정한 결과 BK7의 굴절률은 $n_{6328}$=1.5159으로 측정되어 참고문헌의 값과 0.001정도의 굴절률 오차를 나타내었다. 또한 용융석영의 굴절률은 $n_{6328}$=1.4528로 측정되어 참고문헌의 값과 0.003정도의 오차를 보이고 있다. 그러므로 본 연구에서 고안된 Michelson 간섭계에 의한 평판시료의 굴절률 측정장치는 굴절률 측정법으로 유용한 것으로 나타났다.

The main purpose of this paper is to construct and analyze the Michelson interferometer with rotating sample in order to measure refractive index of solid plate. The theoretical equation and experimental method was proposed in this work. The measured refractive indexes by this system are $n_{6328}$=1.5159 in BK7 and $n_{6328}$=1.4528 in fused silica. These values make a differences by 0.001 in BK7 and 0.003 in fused silica from those of reference. As a result, Michelson interferometer with rotating sample is very advantageous method to find refractive index of plate sample.