Untestable Faults Identification Using Critical-Pair Path

임계-쌍 경로를 이용한 시험 불가능 결함의 확인

This paper presents a new algorithm RICP(Redundancy Identification using Critical-pair Paths) to identify untestable faults in combinational logic circuits. In a combinational logic circuit, untestable faults occurred by redundancy of circuits. The redundancy of a circuit can be detected by analyzing areas of fanout stem and reconvergent gates. The untestable faults are identified by analyzing stem area using Critical-Pair path which is an extended concept of critical path. It is showed that RICP is better than FIRE(Fault Independent REdundancy identification) algorithm in efficiency. The performance of both algorithms was compared using ISCAS85 bench mark testing circuits.

본 논문은 조합 논리회로에서의 시험 불가능한 결함(untestable faults)을 확인하는 새로운 알고리즘 RICP(Redundancy Identification using Critical-pair Paths)를 제시한다. 조합 논리회로에서의 시험 불가능 결합은 회로의 과잉(redundancy)에 의해서 발생한다. 회로의 과잉은 팬 아웃 스템(fanout stem)과 재결집 게이트(reconvergent gate)의 영역을 분석함으로서 찾을 수 있다. 시험 불가능한 결함들은 임계 경로의 확장된 개념인 임계-쌍 경로를 이용하여 스템 영역을 분석함으로써 확인되어진다. RICP 알고리즘이 FIRE(Fault Independent REdundancy identification) 알고리즘보다 효율적이라는 것을 보여준다. ISCAS85 벤치마크 테스트 회로에 대한 두 알고리즘의 실험 결과를 비교하였다