A study on Translation-, Magnification- and Rotation- Invariant automatic Inspection System Development

이동, 배율, 회전에 무관한 자동 검사 장치 개발에 관한 연구

  • O, Chun-Seok (Dept.of Electronics Information Communication Engineering, Sunmoon University) ;
  • Im, Jong-Seol (Dept.of Electronics Information Communication Engineering, Sunmoon University)
  • 오춘석 (선문대학교 전자정보통신공학부) ;
  • 임종설 (선문대학교 전자정보통신공학부)
  • Published : 1999.02.01

Abstract

A difficulty of the visual inspection for translated, magnified and rotated objects exists owing to the limitation of recognition rate. In this paper, we perform to define Integral Logarithm Transform(ILT), to consider its characteristic for implementation of Translation-, Magnification- and Rotation-invariant inspection system, and to compare with other methods in inspection error rate. By using magnification and rotation invariance properties of ILT, it makes easier than other methods to extract the rotation degree. The new method employs the ILT for the good/bad inspection of translated, magnified and rotated objects and experiment is performed to achieve translation, magnification and rotation invariance. In other methods both magnification and rotation invariance can't be available. As the result of he experiment, it is not better than the self-organizing map in the improvement of recognition rate, but it shows us the possibility to be used as a tool for the good/bad inspection system.

통상 자동 검사 장치에 있어 대상체가 기준점에서 이동되거나, 크기가 일정한 배율로 확대 축소되거나, 회전되어있을 때에 대상체를 인식 판별하데 어려움이 존재한다. 본 논문에서는 이동, 배율, 회전에 무관한 검사 장치 구현을 위해 로그 적분 변환을 정의하고 그의 특성을 고찰하여 기존의 검사 방법과 비교한다. 로그 적분 변환의 주요한 특성인 배율과 회전에 무관하게 대상체를 인식할 수 있는 특성을 이용하므로 기존 시스템에서 회전 정보 추출을 위한 노력을 감쇄시킬 수 있다. 이동, 배율 및 회전된 물체의 불량 검사에 새로운 방법으로 로그 적분 변환의 적용을 제안하고 이에 따른 인식률 실험을 수행한다. 물론 기존 시스템에서는 배율과 회전에 무관한 조건을 동시에 만족시킬 수 없었다. 불량 검사 실험 결과에 있어 기존의 신경망을 이용한 기존 시스템에 비해 최적의 수준에는 도달하지는 못했지만 로그 적분 변환이 배율과 회전을 동시에 충족시킬 수 있는 변환으로서 사용 가능성을 얻을 수 있었다.

Keywords