분석과학 (Analytical Science and Technology)
- 제11권4호
- /
- Pages.1045-1056
- /
- 1998
- /
- 1225-0163(pISSN)
- /
- 2288-8985(eISSN)
중성자 방사화분석법에의한 반도체 특성조사-I (원리 및 웨이퍼 벌크 분석)
Characterization of Semiconductor Using Neutron Activation Analysis-I (Its Principle and Wafer Bulk Analysis)
- 김낙배 (한국자원연구소, 분석연구부)
- Kim, Nak Bae (Analysis Research Division, Korea Institute of Geology, Mining and Materials)
- 발행 : 1998.08.01