Abstract
Zr-Si binary alloys containing 0.01 to O.lwt.%Si were prepared to investigate the effect of Si on the corrosion behavior of Zr. Corrosion test was performed in pure water at 36$0^{\circ}C$ under a pressure of 2660psi for 100days. The alloys containing 0.01 wt. % and 0.05wt. %Si had the black and uniform oxide film and didn't show the transition of corrosion rate. However. the alloys containing O.lwt.%Si had white oxide film and showed the trasition of corrosion rate at 70 days corrosion test. The weight gain increased with the increasing Si content from 0.01 to 0.1 wt.%. The variation of Si contents had no effect on changing the oxide structure but had significant effect on the electrical resistivity of oxide. The electrical resistivity decreased with increasing Si content. The fraction of precipitates in the Zr-Si binary alloys. identified as tetragonal $Zr_{3}$Si increased with increasing Si content. The increase of the volume fraction of precipitates is thought to be responsible for the increase of weight gain due to short circuit effect of precipitate.
Zr-Si의 2원계 합금에서 Si함량 변화가 Zr의 부식특성에 미치는 영향을 알아보기 위해 Si 함량을 0.01-0.1wt.%로 조절하여 Zr-Si 2원계 합금을 제조하고 $360^{\circ}C$, 2660psi 물 분위기의 autoclave에서 100일동안 부식 실험을 수행하였다. 0.01wt.%, 0.05wt.%의 Si 첨가에서는 검은색의 균일한 산화막이 생성되었고, 부식속도의 천이는 발생하지 않았다. 그러나 0.01wt.%에서는 흰색의 산화막이 생성되었고, 70일에서 부식속도 천이가 발생하였다. Sigkafid이 0.01에서 0.01wt.%로 증가할수록 무게증가량은 증가하는 경향을 보였다. Si 첨가량 변화에 따라 산화막구조의 변화는 나타나지 않았지만, 산화막의 전기적 성질에 많은 영향을 주었다. Si 첨가량 변화에 따라 산화막구조의 변화는 나타나지 않았지만, 산화막의 전기적 성질에 많은 영향을 주었다. Zr-Si 2원계 합금에서 Si은 tetragonal 구조의 $Zr_{3}$Si로 석출되었으며, Si 함량이 증가할수록 석출물의 크기와 부피분율이 증가하였고, 석출물의 크기와 부피분율 증가에 따라 석출물의 short-circuit 효과 때문에 무게증가량이 증가하는 경향을 보였다.
