Understanding the Response Characteristics of X-ray Verification Film

X-선 Verification 필름의 반응 특성에 관한 연구

Purpose : This study is intended to understand the sensitometric characteristics and the emulsion properties of the commercially available CEA TVS film in comparison with the Kodak X-Omat V film. Materials and Methods : For this purpose, we have formulated an analytic expression of the characteristic curves for x-ray film exposed to mixed radiation of electrons, photons, and visible light. This mathematical expression was developed based on reaction-rate and target-hit theories. Unlike previous expressions. it relates optical density to emulsion properties such as grain size and silver bromide content We have also developed a quantity which characterizes the film response to visible light relative to that to photons and electrons. This quantity could be expressed as a function of grain area. Thus, we have developed mathematical expressions and quantities with which the emulsion properties of the films can be revealed based on the sensitometric characteristics. Demonstrating the use of this analytical study, we exposed CEA and Kodak verification films to the mixed radiation of electrons, photons, and visible light, and interpreted the experimental results accordingly. Results : We have demonstrated that: (1) the saturation density increases as the silver bromide content increases, (2) the time required to reach the threshold dose (to which the film begins to respond) when films are exposed to visible light decreases as the grain size increases, and (3) the CEA film contains more silver bromide. whereas the Kodak film contains larger grains. These findings were supported by the data provided by the manufacturers afterward. Conclusion : This study presented an analytical and experimental basis for understanding the response of X-ray film with respect to the emulsion properties.

목적 : 본 연구는 상용되는 CEA TVS 필름의 감성과 현탁재질을 Kodak X-Omat V 필름과 비교하여 이해하는 것을 목표로 한다. 대상 및 방법 : 이 목표를 위해 전자, 광자 및 가시광선의 복합방사선에 노출된 X 선 필름의 특성커브(H & D curve)에 대한 해석적 표현식을 유도해 내었다. 이 수학적 공식은 반응율 및 target-hit 이론에 근거하여 전개되었다. 기존의 표현식과는 다르게 이것은 필름의 광밀도를 AgBr 입자크기 및 함유량과 같은 현탁재질과 관련시킨다. 또한 광자와 전자에 대한 것과 상대하여 필름의 가시광선에 대한 반응성을 특징짓는 정량적 인자(양자)를 유도해 내었다. 즉, 우리는 필름의 현탁재질을 그것의 감성을 근거로 알게 해 주는 수식과 양자를 유도해 내었다. 이러한 해석적인 연구의 사용을 보이기 위하여 CEA와 Kodak Verification 필름을 전자, 광자, 및 가시광선으로 이루어진 복합방사선에 노출시키고 그 실험결과를 적절히 해석하였다. 결과 : 우리는 아래를 논증하였다. (1) 임계밀도는 AgBr 함유량이 증가함에 따라 증가한다. (2) 필름이 가시광선에 노출되었을 때 문턱선량까지 도달하는 데에 걸리는 시간은 AgBr 입자크기가 증가함에 따라 감소한다. (3) Kodak 필름이 보다 더 큰 입자를 함유한 반면 CEA 필름은 더 많은 양의 AgBr을 함유하고 있다. 이러한 결과는 차후에 필름제작자가 제공한 자료로 뒷받침되었다. 결론 : 본 연구는 X선 필름의 반응성을 그 현탁재질에 관련하여 이해하기 위한 해석적, 실험적인 도구를 제시하였다.