The Effect of Growth Parameters on Crystal Quality of 3C-SiC(111) Thin Film

성장변수가 3C-SiC(111) 박막의 결정성에 미치는 영향

  • 서영훈 (전북대학교 화학공학부) ;
  • 김광철 (전북대학교 반도체 과학기술학과, 반도체 물성 연구소) ;
  • 남기석 (전북대학교 화학공학부) ;
  • 김동근 (전남대학교 금속공학과) ;
  • 이병택 (전남대하교 금속공학과) ;
  • 서은경 (전북대학교 반도체 과학기술학과) ;
  • 이형재 (전북대학교 반도체 과학기술학과)
  • Published : 1997.08.01

Abstract

P-type Si(111)기판 위에 3C-SiC박막 성장시 TMS(tetramethylsilane)유량, 반응온도, 반응압력, 가스공급방법등 다양한 성장변수에 따른 박막의 결정성변화를 연구하였다. 증착된 막은 모두 (111)방향성만을 나타내었고, free Si, C의 존재는 관찰할 수 없었다. TMS 유량 0.5 sccm에서, 1100-120$0^{\circ}C$의 반응온도에서 , 반응압력 12-50Torr 조건에서 비록 dislocation과 twin등이 발결되었으나 단결정 3C-SiC 박막을 성장시킬 수 있었으며, 박막의 결정성은 기판에 흡착된 Si-종과 C-종이migration할 수 있는 시간과 에너지에 크게 영향 받음을 확인할 수 있었다. 또한 SiC/Si계면에서 carbonization공정에서 관찰되는 것으로 알려진 void를 관찰할 수 있었으며, 이러한 void의 발생은 기체공급방법을 달리함으로서 제거할 수 있음을 확인할 수 있었다.

Keywords

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