초록
지구 주변의 방사선대에 존재하는 고에너지 입자들은 위성계의 전자 재료, 부품, 및 집적 회로 등에 일시적 또는 장기적인 영향을 준다. 따라서 이러한 고에너지 입자들에 의한 우주 방사선 환경에 대한 정보를 아는 것은 매우 중요하다. 총 방사선의 양을 측정하는 장치로서 MOSFET을 개량한 RADFET을 많이 사용하는데, 본 연구에서는 $Co^{60}{\gamma}-ray$를 이용하여 TOT500 RADFET을 보정하였다. 그 결과, 방사선에 대한 RADFET의 특성 곡선 변화가 온도의 변화에 매우 민감한 것을 확인하였다. 또한, 우리별 1호에서의 TDERUF과를 위성의 온도와 비교하였으며, 그 결과 TDE 실험에 나타난 특이한 형상은 지구에 의한 위성의 식 현상에서 비롯된 온도 변화가 주된 원인이었음을 확인하였다.
High energy particles in the earth's radiation belts cause transient and long term effects on electronic materials, devices, and integrated circuits on board the satellites. Hence, it is very important to have the information on the space radiation environment and the damage on the electronics caused by the se high energy particles. One of the radiation monitor devices frequently used in space is RADFET, a specially designed MOSFET with a thick gate oxide region. The present study focuses on the calibration of RADFET TOT500 using the $Co^{60}{\gamma}-ray$ source. The result shows that the response of RADFET is very sensitive to the change of temperature. The peculiar behavior observed in the TDE (Total Dose Experiment) on board the KITSAT-1 is identified as the thermal effect due to the change in the eclipse rate of the satellite.
