Test Generation for Partial Scanned Sequential Circuits Based on Boolean Function Manipulation

논리함수처리에 의한 부분스캔순차회로의 테스트생성

This paper describes a test generation method for sequential circuits which improves the application limits of the IPMT method by applying the partial scan design to the IPMT method. To solve the problem that the IPMT method requires enormous computation time in image computation, and generates test patterns after the partialscan design is introduced to reduce test complexity. Scan flip-flops are selected for the partial scan design according to the node size of the state functions of a sequential circuit in their binary decision diagram representations. Experimental results on ISCAS'95 benchmark circuits show that a test generator based on our method has achieved 100% fault coverage by use of either 20% scan FFs for s344, s349, and s420 or 80% scan FFs for sl423. However, test gener-ators based on the previous IPM method have not achieved 100% fault coverage for those circuits.

본 논문은 IPMT법에 부분스캔설계 방법을 적용하여, IPMT법의 적용 한계를 개선 한 순차회로의 테스트생성법에 관해 기술한다. IPMT법에서의 像계산(image computation) 시 방대한 계산량이 필요로한 문제점을 해결하기 위하여,부분스캔설계를 도입하여테스트 복잡도를 줄인 후 IPMT법으로 테스트생성을 한다. 부분스캔설계를 위한 스캔 플립플롭의 선택은 순차회로의 狀態 함수를 二分決定그래프가binary decision diagram) 로 표현했을 때의 노드의 크기 순으로 한다. 본 방법을 이용하여 ISCAS'89 벤치마크회로에 대해 실험 한 결과, 종래의 IPMT법 에서 100% 고장검출률을 얻을 수 없었던 s344, s420에 대해 20% 부분스캔으로 100%의 고장검출률을 얻었고, sl423에 대해서는 80%의 부분스캔으로 100% 고장검출률을 얻었다.