Journal of the Mineralogical Society of Korea (한국광물학회지)
- Volume 8 Issue 2
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- Pages.86-90
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- 1995
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- 1225-309X(pISSN)
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- 2288-7172(eISSN)
Electron-beam Induced K Diffusion in Stilpnomelane During Electronprobe Microanalyzer Analysis
전자현미분석중 발생하는 스틸프로멜레인의 K 이동 현상
Abstract
본 연구에서는 전자현미분석기를 이용한 스틸프로멜레인의 분석시 발생하는 K 이동현상을 체계적으로 조사하였다. 분석시료가 전자빔에 오래 노출될 경우 K이 주변으로부터 이동하여 K 함량이 높게 측정되는 경향이 있다. 가속전압과 빔전류를 낮추고 전자빔 크기를 크게 할 경우 일반적으로 K의 이동은 줄어드는 경향을 보여준다. 실험결과에 의하면 5-
Keywords