HVPE법에 의한 질화갈륨 단결정막 성장시 상전이에 관한 연구

Phase Transformation in Epitaxial Growth of Galium Nitride by HVPE Process

HVPE(Halide Vapour Phase Epitaxy) 법에 의하여 육방정계 질화갈륨(GaN) 단결정막의 (0001)면에 섬모양으로 배향된 입방정계 β-GaN상과 육방정계 α-GaN상 사이의 상호 배향은 [110](111) β-GaN//[1120](001) α-GaN 관계를 갖는 것으로 관찰되었다. 삼각섬 모양을 β-GaN는 막표면에 평행인 (111)면에 대한 쌍정위치를 점하고 있었다. 광발광(PL) 및 국소부위 음극선 발광(CL)을 측정하여 β-GaN의 금제대폭값은 실온에서 3.18±0.30eV로 얻어졌다.

The oriented islands of cubic galium nitride are grown on the (0001) surface of hexagonal GaN epitaxial films by halide vapour phase epitaxial process. The mutual orientation of cubic β-GaN and hexagonal α-GaN phase was observed as : [110](111) β-GaN//[1120](0001) α-GaN. Trigonally faced islands of β-GaN occupy the twined positions in relation to (111) plane in parallel to the film surface. The band gap value for β-GaN determuned from photo and local catchodoluminescent measurments is estimated to be 3.18±0.30eV at room temperature.