References
- Nature v.350 Hebard, A. F.;Rosseinsky, M. J.;Haddon, R. C.;Murphy, D. W.;Glarum, S. H.;Palstra, T. T. M.;Ramirez, A. P.;Kortan, A. R.
- Science v.252 Holczer, K.;Klein, O.;Huang, S.-M.;Kaner, R. B.;Fu, K.-J.;Whetten, R. L.;Diederich, F.
- Nature v.352 Tanigaki, K.;Ebbesen, T. W.;Saito, S.;Mizuki, J.;Tsai, J. S.;Kubo, Y.;Kuroshima, S.
- Phys. Rev. v.B45 Harigaya, K.
- Phys. Rev. v.B45 Friedman, B.
- Phys. Rev. v.B45 de Coulon, V.;Martins, J. L.;Reuse, F.
- Chinese Phys. Lett. v.9 Fu, R. T.;Fu, R. L.;Sun, X.;Chen, Z.
- J. Phys. Chem. Solids v.54 Lee, K. H.;Paek, U.-H.
- Science v.254 Hedlberg, K.;Hedberg, L.;Bethune, D. S.;Brown, C. A.;Dorn, H. C.;Johnson, R. A.;De Vries, M.
- J. Am. Chem. Soc. v.113 Yannoni, C. S.;Bernier, P. P.;Bethune, D. S.;Meijer, G.;Salem, J. R.
- Proc. Nat. Acad. Sci. U. S. A. v.77 Su, W. P.;Schrieffer, J. R.
Cited by
- Self-Trapping Process of Exciton in C60 vol.12, pp.11, 1994, https://doi.org/10.1088/0256-307x/12/11/007