반도체 RAM의 결합고장을 검출하는 알고리듬

Algorithms for Detecting Coupling Faults in Semiconductor RAM's

기존의 알고리듬들이 완전히 검출하지 못하는 차수 2나 3의 연결된 2-결합고장을 검출하기 위하여 "알고리듬 다"가 제안되었다. 제한된 3-결합고장을 검출하는 "테스트1*", "테스트2*" 및 "알고리듬 라"가 제안되었다. "테스트1*"는 제한된 3-결합고장을 검출하는 측면에서 기존의 알고리듬들보다 시간복잡도가 감소되었다. "테스트2*" 및 "알고리듬 라"는 기존의 알고리듬들과 비교하여 시간복잡도가 감소되었고 개선된 고장 검출능력을 가진다. 그리고 요구하는 고장 검출정도에 따라 "알고리듬 라"를 순차적으로 수행시킬 수 있으며, 메모리를 병렬테스트하는 경우에 "알고리듬 라"를 수행시키면 시간복잡도가 상당히 개선된다. 비선형 번지순서를 발생시키고 두 번지부분으로 분할하여 반도체 RAM의 결합고장을 검출하는 MT(March Test)는 차수 3의 연결된 2-결합고장보다 복잡한 결합고장은 완전히 검출될 수 없다는 것이 입증되었다.

"Algorithm DA" is proposed to test linked 2-CFs(2-Coupling Faults) with order 2 or 3 which are not perfectly detected in conventional algorithms. "Test 1*", "Test 2*" and "Algorithm RA" are proposed restricted 3-CFS. The time complexity of "Test 1*" is reduced in view of the detection of 3-CFS. "Test 2*" and "Algorithm RA" have not only the reduces time complexity but also the improved fault coverage in comparison with conventional algorithms. And "Algorithm RA" can be applied step by step according to the degree of the fault coverage. If "Algorithm RA" is applied to the memory with parallel test. its time complexity is reduced considerably. It is proved that the MT(March Test) with nonlinear address sequences can not detect perfectly the CFs more complex than linked 2-CFs with order 3.ss sequences can not detect perfectly the CFs more complex than linked 2-CFs with order 3.