A study on technical standard of surge tests

Surge 시험 기술 기준에 대한 고찰

기술의 발달과 정보화 사회로의 이행은 각종 전기, 전자 기기 사용의 양적, 질적 증가를 가져 왔으며 이에 따른 불요 전자파는 전기, 전자 기기 상호간의 장해, 인체에의 유해 등 기술적, 사회적 문제로 나타나 고 있다. 따라서, 전자파 환경을 보호하기 위하여 전자파 장해 검정 제도가 국, 내외 적으로 시행되고 있으며 또한 열악한 전자파 환경에서 정상적인 동작을 보장하기 위한 전자파 내성이 요구되고 있다. 이러한 전자파 내성을 국제 전기 표준 위원회(IEC)에서는 그 원인에 따라 ESD 내성(정전기 방전), 방사 내성, EFT 내성(급격한 과도 현상), Surge 내성, 전도 내성 등으로 분류하고 있으며 원인별 시험 기술기준도 작성되고 있다. (IEC 801 시리즈)