전자공학회지 (The Magazine of the IEIE)

대한전자공학회 (The Institute of Electronics and Information Engineers)
권호 표지

Design for Testability를 위한 검사방식

  • 이병현 (조선대학교 전자공학과) ;
  • 김용득 (아주대학교 전자공학과)
  • 발행 : 1992.01.01
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