The Simultaneous Determination of Chemical Ingredients in Silica Minerals by X-ray Fluorescence Spectrometry using Matrix Correction Method

매트릭스 보정법을 이용한 규산질 광물 중 화학성분의 X-선 형광분광법 분석

  • 김영만 (한국과학기술연구원 화학분석실) ;
  • 최범석 (경희대학교 자연과학대학 화학과) ;
  • 이경미 (한국과학기술연구원 화학분석실) ;
  • 김선태 (한국과학기술연구원 화학분석실) ;
  • 이종욱 (한국과학기술연구원 화학분석실)
  • Published : 19900100

Abstract

The chemical ingredients such as $SiO_2,\;Al_2O_3,\;MgO,\;Fe_2O_3,\;CaO$ and $TiO_2$in silica minerals were determined by X-ray fluorescence spectrometry using a matrix correction method. The synthesized standards mixed with reagent grade oxides and the sample were diluted by fusing with 16 times $Li_2B_4O_7$. The matrix effects correlated among the ingredients were corrected by the empirical coefficient method based on the Lucas-Tooth and Pyne model. The analytical results showed relatively good agreement between the different sets of coefficients but were improved with increasing the number of standard. The accuracy of this method was also examined with the standard reference material of NIST.

규산질 광물 중 화학성분 원소인 $SiO_2,\;Al_2O_3,\;MgO,\;Fe_2O_3,\;CaO$$TiO_2$를 매트릭스 보정법을 이용한 X-선 형광분광법으로 분석하였다. 순수한 금속산화물을 혼합하여 만든 합성표준시료와 분석시료를 $Li_2B_4O_7$로 16배 희석, 용융하여 glass bead로 만들고 Lucas-Tooth와 Pyne 보정식을 사용한 실험계수법으로 성분간의 매트릭스 효과를 보정하였다. 각각 다른 세트의 매트릭스 계수를 사용하여 분석한 결과를 비교적 잘 일치하였으며 표준시료의 수가 많은 세트를 사용할 때 좋은 분석결과를 얻었다. 또한 NIST의 표준시료를 사용하여 이 방법에 의한 정확도를 검토하였다.

Keywords

References

  1. Anal. Chem. v.23 F. T. Fitch;D. S. Russel
  2. Mikrochim. Acat H. Flaschka
  3. Anal. Chem. v.22 T. Moeller;J. C. Brantly
  4. Anal. Chem. v.43 V. A. Fassel
  5. Spectrochim. Acta v.36B M. W. Blades;G. Horlick
  6. 九大理硏究 v.14 中田節也;柳哮;前田後一;方大赫;山九勝
  7. Imono v.52 no.4 Takao Kondoh
  8. Fresenius Z Anal. Chem. v.320 W. B. Stern
  9. Anal. Chem. v.26 E. N. Davis;R. A. Van Nordstrand
  10. Spectrochim. Acta v.23B R. Tertian
  11. Spectrochim. Acta v.26B R. Tertian
  12. Anal. Chem. v.51 R. D. Glauque;R. B. Garrette;L. Y. Goda
  13. Spectrochim. Acta v.41B Roger Guevremont;K. Nimalasiri De Silva
  14. Japan Analyst v.17 W. Funasaka;T. Ando;Y. Tomida
  15. X-ray Spectrometry v.11 P. A. Pella;J. R. Sieber
  16. Anal. Chem. v.46 S. D. Rasberry;K. F. J. Heinrich
  17. Int. Lab. v.11 no.3 W. K. de Jongh
  18. 대한화학회지 v.31 김영만;최범석;김선태;이종욱