A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘

We propose a new algorithm which detects stuck-open faults in CMOS circuits without being affected by time skews not using additional circuits. That is, the Domino CMOS circuit structure is used as circuit configurations and the clocking gate in this circuit is modeled as one branch, then test sequence is generated by using the transition test. Also, it is verified by applying this algorithm implemented in VAX II/780 to arbitrary CMOS circuits that all of stuck-open faults which were not detected because of time skews in conventional methods is detected.

CMOS 논리회로에서 부가회로없이 time skew와 무관하게 stuck-open(이하 s-op) 고장을 검출할 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 즉, CMOS회로 구성요소로서 Domino CMOS 이 회로를 채택하여 회로의 클럭킹 게이트를 하나의 branch로 간주 모델화하고, transition test를 이용하여 테스트 시이퀸스를 구한다. 또한 이 알고리즘을 VAXII/780상에서 임의의 CMOS회로에 적용시켜 보므로써, 종래의 방법에서 time skew로 인하여 검출될 수 없었던 모든 s-op 고장이 검출됨을 보였다.