A Study on the Computer Aided Fault Detection in PLAs

컴퓨터를 이용한 PLA 고장 검출에 관한 연구

  • Im, Je-Tak (Dept. of Telecomunication Engineering, Hanyang University) ;
  • Lee, Du-Su (Dept. of Telecomunication Engineering, Hanyang University) ;
  • Kim, Hui-Seok (Dept. of Telecomunication Engineering, Hanyang University) ;
  • Lee, Eun-Seol (Dept. of Telecomunication Engineering, Hanyang University)
  • 임제탁 (한양대학교 공과대학 전자공학과) ;
  • 이두수 (한양대학교 공과대학 전자공학과) ;
  • 김희석 (한양대학교 공과대학 전자공학과) ;
  • 이은설 (한양대학교 공과대학 전자공학과)
  • Published : 1982.08.01

Abstract

It is a time-consuming wort to generate test inputs of a PLA as inputs and Product terms are increasing. In this paper we design a computer algorithm which is efficient for processing sharp and cap operator simultaneously. An assembly language program is coded and run successfully.

PLA는 다입방-다출력에 적합하지만 입력변수의 증가와 적항의 증가에 따라 종래의 방법으로는 테스트 입력의 생성이 곤란하게 된다. 본 논문에서는 이와 같은 테스트 입방을 구하기 위하여 sharp 연산과 cap 연산을 동시에 처리하는 효과적인 컴퓨터 알고리듬을 구성하고 이것을 프로그램에 의해서 실증하였다.

Keywords