Charge-coupled analog-to-Digital Converter

전하결합소자를 이용한 Analog-to-Digital 변화기

Experimental results on a 4-bit charge-coupled A/D converter are described. Major operations in the successive approximation algorithm are implemented in a monolithic chip, CCADC, which was fabricated usir p-channel CCD technology, with its die size of 4,200 mil2 Typical operating frequency range has been found out to be from 500Hz to 200kHz. In that frequency range, no missing code has been found in the whole signal range of 2.4 volts for ramp signal slewing at 1 LSB/(sampling time). A discussion is made on several layout techniques to conserve the nominal binary ratio of (8:4:2:1) among the areas of four adjacent potential wells (M wells), whose charge storing capacities correspond to each bit magnitude - 3.6 pC, 1.8 pC, 0.9 pC, and 0.45 pC nominal in the order of MSB to the LSB. The effect of 'dump slot', which is responsible for the excessive nonlinearity (2$\frac{1}{2}$LSB) in the A/D converter, is explained. A novel input scheme called 'slot zero insertion' to circumvent the deleterious effects of the dump slot is described with the experimental results.

4-bit 전하결합 A/D 변환기에 대한 실험 결과를 제시하였다. Successive approximation algorithm 에 필요한 대개의 기능을 CCADC(charge coupled A/D converter)라는 mono-lithiic chip으로 실현하였다. CCADC는 P-channel 전하결합소자 제작기술에 의하여 만들어졌으며, Chip면적은 약 4,200 $mil^2$이었다. 동작 clock 주파수 범위는 500Hz ~ 200KHz로 나타났으며, 이 주파수 범위내에서는 약 2.4 Volt의 전신호 전압 구간을 1LSB/clok주기의 속도로 변하는 ramp 입력신호에 대하여 16가지의 binary code가 빠짐없이 관찰되었다. MSB단부터 LSB단의 순서로 정격 전하용량이 각각 3.6pC, 1.8pC, 0.9pC, 0.45pC인 4개의 연속된 potential well(M-well)간의 면적비를 (8:4:2:1)로 유지하기 위한 설계기술에 대하여 토론하였다. 끝으로, 제작된 A/D변환기에 있어서 과도한 conversion nonlinearity의 원인이 되는 dumpslot 효과에 대하여 설명하였으며, dump slot으로 인한 오동작을 막기 위한 방법으로서 slot zero 삽입방식을 제안하고 이에 대한 실험결과를 제시하였다.