Abstract
The n-type germanium crystals have been irradiated by $^{60}$ Co gamma-ray with 647 Mrad at room temperature for compensation. The Ge(${\gamma}$) detectors were fabricated from the gamma-ray irradiated germanium single crystals. The detector characteristics of the Ge (${\gamma}$) detectors were comparable to those of thin Ge(Li) detectors and high purity germanium detectors. The thermal stability of the Ge (${\gamma}$) detector showed a feasibility for ambient temperature storage.
n형 Ge 결정체를 보상하기 위해 상온에서 $^{60}$Co 감마선으로 647 Mrad 조사하였다. 감마선으로 조사된 Ge 결정체로 Ge(${\gamma}$) 검출기를 제작하였다. Ge(${\gamma}$) 검출기의 검출기 특성은 얇은 Ge(Li) 검출기나 고순도 Ge 검출기와 비슷하였다. Ge(${\gamma}$) 검출기의 온도에 대한 안정도는 상온에서의 저장이 가능함을 보여 주었다.