출력분기가 있는 조합논리회로의 고장검출에 과한 연구

A Study on the Fault Detection in combinational Logic Networks with Fan-out

  • 임재탁 (한양대학교 공과대학, 전자공학과) ;
  • 이근영 (한양대학교 공과대학, 전자공학과)
  • 발행 : 1974.08.01

초록

본 논문은 출력분준가 있는 조합논리회로의 최소 고장검출실험의 생성에 관한 것이다. 조합논리회로의 출력분준선에 있어서의 신청반전의 우기성을 고려함으로서 출력분준가 있는 회로에 대한 특성그래프와 그 부분그래프를 작성하여 필요한 테스트수의 하한과 그 최소실험을 구하였다. 출력분준선의 고장검출 가능가부를 판정하는데 Boolean Difference를 이용하였다.

In this paper, we are concerned with the problem of generating fault-detection experiment for combinational logic networks with fan-out. We establish the lower limit on the necessary number of fault-section tests and show how such experiments can be obtained by considering inversion parity from the output to the point whore fan-out exilts on the networks. Boolean difference is used advantageously.

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