Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference (한국정보통신학회:학술대회논문집)

The Korea Institute of Information and Commucation Engineering (한국정보통신학회)
권호 표지

Development of high-speed (300MHz) test system for system IC

시스템 IC를 위한 하이스피드(300MHz) 테스트 시스템 개발

  • Published : 2018.10.18
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Abstract

This paper proposes a method for system development for high speed (300MHz) test of system IC semiconductors. The high-speed test system proposes a high-speed test circuit interface and a PCB design method for noise reduction. This paper proposes evaluation items and procedures for verifying the performance of the developed system. System IC The development of high speed test systems will help optimize the development of domestic system IC test equipment.

본 논문은 시스템 IC 반도체의 고속(300MHz) 테스트를 위한 시스템 개발에 대한 방법을 제안한다. 하이스피드 테스트 시스템은 고속 테스트 회로 인터페이스와 노이즈 저감을 위한 PCB 설계 방법을 제안한다. 본 논문은 개발된 시스템의 성능 검증을 위한 평가 항목과 절차를 제안한다. 시스템 IC 하이스피드 테스트 시스템 개발은 국내 시스템 IC테스트 장비개발의 최적화에 도움이 될 것으로 생각한다.

Keywords