Proceedings of the Korean Society of Computer Information Conference (한국컴퓨터정보학회:학술대회논문집)

Korean Society of Computer Information (한국컴퓨터정보학회)
권호 표지

A Study on the VVC and VOV Features of Image in the field of Surface Defect Inspection

표면 결함 검사에서 영상의 VVC 와 VOV 특징에 관한 연구

  • Jeon, Young-Min (Dept. of Computer Engineering, Korea-Polytechnic University) ;
  • Ji, Hone-Geun (Dept. of Computer Engineering, Korea-Polytechnic University) ;
  • Guarino, Guillaume (Dept. of Mechatronics Engineering, National Institute of Applied Sciences strasbourg) ;
  • Bae, You-Suk (Dept. of Computer Engineering, Korea-Polytechnic University)
  • 전영민 (한국산업기술대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 지홍근 (한국산업기술대학교 컴퓨터공학과) ;
  • ;
  • 배유석 (한국산업기술대학교 컴퓨터공학과)
  • Published : 2018.07.13
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Abstract

본 논문은 스마트 공장의 표면 결함 검사 시스템에서 사용할 수 있는 VVC, VOV 영상의 특징 활용에 관한 연구를 내용으로 다루었습니다. 본문에서는 VVC와 VOV 특징에 대하여 원리를 소개하고, 실험에서는 이들 특징을 사용한 표면 결함 검사의 결과를 제시하였습니다.

Keywords