Proceedings of the Korean Society of Computer Information Conference (한국컴퓨터정보학회:학술대회논문집)
- 2018.07a
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- Pages.387-388
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- 2018
A Study on the VVC and VOV Features of Image in the field of Surface Defect Inspection
표면 결함 검사에서 영상의 VVC 와 VOV 특징에 관한 연구
- Jeon, Young-Min (Dept. of Computer Engineering, Korea-Polytechnic University) ;
- Ji, Hone-Geun (Dept. of Computer Engineering, Korea-Polytechnic University) ;
- Guarino, Guillaume (Dept. of Mechatronics Engineering, National Institute of Applied Sciences strasbourg) ;
- Bae, You-Suk (Dept. of Computer Engineering, Korea-Polytechnic University)
- Published : 2018.07.13
Abstract
본 논문은 스마트 공장의 표면 결함 검사 시스템에서 사용할 수 있는 VVC, VOV 영상의 특징 활용에 관한 연구를 내용으로 다루었습니다. 본문에서는 VVC와 VOV 특징에 대하여 원리를 소개하고, 실험에서는 이들 특징을 사용한 표면 결함 검사의 결과를 제시하였습니다.
Keywords