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A Development of Surface Roughness Analysis System

표면 거칠기 분석 시스템 개발

  • Song, SuHo (Dept of Computer Science and Engineering, Sunmoon University) ;
  • Jeon, Yong-Tae (Dept of Computer Science and Engineering, Sunmoon University) ;
  • Lee, Hyun (Dept of Computer Science and Engineering, Sunmoon University)
  • 송수호 (선문대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 전용태 (선문대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 이현 (선문대학교 컴퓨터공학과)
  • Published : 2016.10.27

Abstract

최근 산업에서는 기계구성 부품과 고정밀 가공에 대한 요구가 높아지고 있으며, 생산 현장에서는 기계를 효율적으로 운용하는 것의 필요성과 정밀도향상의 요구가 높아지고 있다. 하지만 이를 위해서는 가공된 제품을 정밀히 관찰, 분석 할 수 있어야 하며, 이를 위해서는 사람의 눈으로 볼 수 없는 미세한 차이를 구분 할 수 있어야 한다. 이를 위해서 본 논문에서는 백색광 간섭 측정계를 이용해 측정된 데이터를 시각화 하고, 더 나아가서 6가지의 거칠기 파라미터를 제공하여 관찰, 분석에 있어서 유용한 정보를 제공하고자 한다.

Keywords