위상 보정을 통한 Fringe Pattern Profilometry 3D 측정의 정확성 개선

Improvement of the Accuracy of Fringe Pattern Profilometry 3D Measurements through Phase Correction

기술이 발전하면서 카메라를 통해 3D 측정을 하는 방법은 계속 발전되어 왔다. 3D 측정을 하는데 있어서 신경 써야 할 요소로는 속도, 정확성, 쉬운 구현 등이 있다. 최근 들어서는 여러 주기의 Fringe pattern을 이용한 측정 방법이 나왔고 많이 쓰이고 있는 추세이다. 이 방법은 일반적으로 프로젝터를 통해 사인파를 뿌려서 얻은 영상으로 높이를 측정하는 방법이다. 이때 사인파를 소프트웨어적으로 생성하여 뿌리는데, 생성된 패턴은 완벽한 사인파일지라도 프로젝터로 뿌릴 때는 감마에 의해서 완벽한 사인파가 될 수가 없다. 이것은 높이 측정에 악영향을 주어, 보다 정확한 높이를 측정할 수 없게 한다. 따라서 본 논문에서는 감마 영향을 받지 않기 위해 사인파의 위상에 대한 보정 방법을 제안한다. 이 방법을 통하여 보다 정확한 높이 측정을 할 수 있을 것이다.

As technologies evolve, 3D measurement techniques using cameras have been developed continuously. In 3D measurement, high accuracy, fast speed, and easy implementation are very important factors. Recently, 3D measurement using multi-frequency fringes has been widely used. This method is generally a method of measuring the height of a image obtained by projecting a sine wave through the projector. The sine wave is produced by software. However, this sine wave is not a perfect sine wave by gamma of projector. This is given a bad influence on the height measurement, and can not measure the correct height. In this paper, we propose a method for correcting the phase of the sine wave to avoid being affected gamma. Through this method it will be able to make more accurate height measurement.